適配體修飾金硒納米合金共振散射光譜法檢測(cè)痕量Hg2+

編號(hào)：NMJS01883

篇名：適配體修飾金硒納米合金共振散射光譜法檢測(cè)痕量Hg2+

作者：蔣治良； 張軼； 覃惠敏； 周蓮平； 梁愛惠； 王鵬飛； 歐陽輝祥；

關(guān)鍵詞：汞離子； 核酸適配體； 金硒納米合金； 共振散射光譜法；

機(jī)構(gòu)： 廣西師范大學(xué)環(huán)境與資源學(xué)院珍稀瀕危動(dòng)植物生態(tài)與環(huán)境保護(hù)省部共建教育部重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室；

摘要： 用硼氫化鈉還原法制備了金硒(AuSe)納米合金。用單鏈核酸適配體(aptamer)修飾AuSe納米合金制備了汞離子的核酸適配體納米探針(Apta-AuSe)。在pH 6.8 Na2HPO4-NaH2PO4緩沖溶液中及NaCl存在下,Apta-AuSe納米探針亦不聚集;當(dāng)Hg2+存在時(shí),它可以穩(wěn)定aptamer序列中的T-T錯(cuò)配,形成較穩(wěn)定的雙鏈T-Hg2+-T錯(cuò)配物,從而使釋放出來的AuSe納米合金聚集形成較大的微粒,導(dǎo)致590 nm處共振散射峰增強(qiáng)。Hg2+濃度在1.3~1 466 nmol.L-1范圍內(nèi)與共振散射光強(qiáng)度呈良好線性關(guān)系,其回歸方程和檢出限分別為ΔI590 nm=0.603c+2.0和0.74 nmol.L-1。該方法用于水樣中Hg2+的檢測(cè),結(jié)果滿意。