納米二氧化鈦膜電極測定痕量鋅

編號：NMJS01597

篇名：納米二氧化鈦膜電極測定痕量鋅

作者：陳明�。�

關(guān)鍵詞：納米二氧化鈦； 化學(xué)修飾電極； Zn2+； 線性掃描溶出伏安法；

機(jī)構(gòu)： 淮南師范學(xué)院化學(xué)與化工系；

摘要： 以nano-TiO2膜修飾玻碳電極作為工作電極,采用線性掃描溶出伏安法測定飲料樣中的痕量Zn2+。在pH值4.5的磷酸鹽緩沖溶液中,Zn2+在-1.2 V電位下富集7min,再靜置60s后陽極化掃描,于-0.72 V處出現(xiàn)一個(gè)靈敏而尖銳的陽極溶出峰。Zn2+溶出峰電流與其濃度在1.0×10-8~5.0×10-6mol.L-1范圍內(nèi)呈良好的線性關(guān)系,富集12 min,檢出限(S/N=3)為2.5×10-9mol.L-1。方法用于實(shí)際飲料樣中Zn2+的檢測,結(jié)果令人滿意。