UV-Vis-NIR反射光譜表征粉體材料的能隙值的方法

編號：FTJS01907

篇名：UV-Vis-NIR反射光譜表征粉體材料的能隙值的方法

作者：李秀艷； 王強；

關鍵詞：粉體材料； 紫外-可見-近紅外反射光譜； 能隙值；

機構： 北京服裝學院材料科學與工程學院； 北京市服裝材料研究開發(fā)與評價重點實驗室；

摘要： 運用涂膜法和UV-Vis-NIR反射光譜,提出了表征粉體材料能隙值的新方法。結果表明,當Vcoloed/VTiO2(有色粉體與鈦白的體積比)小于5%時,通過反射光譜可得到表征材料在該波段吸波特性的Kubellka-Munk函數F,即F=(1-R∞)2/2R∞(R∞是涂層無限厚時的反射率)。將Kubellka-Munk函數F對波長(以電子伏特表示)作圖,就可以得到表征材料能隙值的曲線。該方法操作簡單,節(jié)省原料,同時由于去除了有色粉體粒子間的相互干擾,在實際研究中具有普遍性。