納米鋁粉粒徑對活性量及氧化層厚度的影響

編號：FTJS01876

篇名：納米鋁粉粒徑對活性量及氧化層厚度的影響

作者：曾亮； 焦清介； 任慧； 周慶；

關鍵詞：材料科學； 納米鋁粉； 氧化層厚度； TEM分析； 活性鋁含量；

機構： 北京理工大學爆炸科學與技術國家重點實驗室；

摘要： 采用TEM、ESEM及元素分析對25~600 nm的鋁粉進行了表征,用FastStone軟件對TEM照片進行了處理,提出了納米鋁粉氧化層厚度計算公式,結合實驗條件,分析了該公式的合理性與通用性。結果表明,納米鋁粉的氧化層厚度存在一個下限值,當鋁粉粒徑不小于70 nm時,鋁粉的氧化層厚度與粒徑呈二項指數(shù)增加關系。