冷熱循環(huán)對微米Al2O3環(huán)氧復(fù)合絕緣介電性能的影響

編號：CYYJ043313

篇名：冷熱循環(huán)對微米Al2O3環(huán)氧復(fù)合絕緣介電性能的影響

作者：潘澤華 任志剛 劉音 郭衛(wèi) 李華春

關(guān)鍵詞： 環(huán)氧復(fù)合絕緣 微米Al2O3 冷熱循環(huán) 介電性能

機構(gòu)： 國網(wǎng)北京市電力公司電力科學(xué)研究院

摘要： 為了探究高低溫持續(xù)變化對電纜終端環(huán)氧復(fù)合絕緣的影響,本文制備了微米Al2O3/環(huán)氧復(fù)合絕緣試樣,并對此進行了冷熱循環(huán)實驗。通過交流擊穿、等溫表面電位衰減和介電性能等測試分析了不同冷熱循環(huán)次數(shù)下環(huán)氧復(fù)合絕緣試樣的介電性能變化規(guī)律以及材料劣化機理。結(jié)果表明:在冷熱循環(huán)過程中,環(huán)氧復(fù)合絕緣的交聯(lián)網(wǎng)絡(luò)在高溫?zé)崂匣�和高低溫交變�?yīng)力的共同作用下逐漸發(fā)生劣化,填料逐漸脫離基體,試樣內(nèi)出現(xiàn)微裂紋和孔洞,自由體積不斷增大,介電常數(shù)和擊穿場強不斷降低。其中,在經(jīng)過750h的冷熱循環(huán)后,試樣的交流擊穿場強下降了15.2%,深陷阱密度下降了41%,淺陷阱密度呈現(xiàn)上下波動的趨勢,介質(zhì)損耗因數(shù)(tanδ)先減小后小幅增大。