單晶高溫合金氣膜孔氧化損傷的薄壁效應(yīng)研究

編號：CYYJ03428

篇名：單晶高溫合金氣膜孔氧化損傷的薄壁效應(yīng)研究

作者：胡春燕 劉新靈 劉昌奎 陶春虎

關(guān)鍵詞： 氣膜孔 DD6單晶高溫合金 電液束加工 氧化損傷 薄壁效應(yīng)

機(jī)構(gòu)： 中國航發(fā)北京航空材料研究院 航空工業(yè)失效分析中心 航空材料檢測與評價北京市重點實驗室 中國航空發(fā)動機(jī)集團(tuán)材料檢測與評價航空科技重點實驗室

摘要： 通過靜態(tài)增重法對不同孔間基體尺寸的DD6單晶高溫合金在1050℃的恒溫氧化行為進(jìn)行測定,并利用掃描電鏡、能譜以及X射線衍射等對氧化產(chǎn)物進(jìn)行分析。結(jié)果表明:含氣膜孔的DD6單晶高溫合金發(fā)生氧化損傷薄壁效應(yīng)的臨界尺寸為0.75 mm。由于電液束加工屬于一種電化學(xué)腐蝕加工方法,在孔邊的電解腐蝕層已滲入基體,并導(dǎo)致靠近基體最內(nèi)層的Al2O3膜不完全連續(xù)致密,進(jìn)而保護(hù)性變差,從而在孔邊形成一定范圍的氧化高速反應(yīng)區(qū)。隨著孔間基體尺寸的增大,高速反應(yīng)區(qū)面積逐漸增大到最大值后不再變化,此后生長應(yīng)力的作用成為主導(dǎo)因素,而生長應(yīng)力的疊加效應(yīng)隨著孔間基體尺寸的增大逐漸減小,因此峰值點之后又呈下降趨勢。