靜態(tài)圖像粒度粒形分析方法對氧化鋁顆粒的測定研究

編號：NMJS07558

篇名：靜態(tài)圖像粒度粒形分析方法對氧化鋁顆粒的測定研究

作者：楊正紅 孫志昂 高巖 王莘泉

關(guān)鍵詞： 圖像法粒度分析 氧化鋁 粒度粒形 鈍度 粗糙度 分形維數(shù)

機構(gòu)： 儀思奇（北京）科技發(fā)展有限公司 河南長興實業(yè)有限公司

摘要： 為了準確全面地了解顆粒的形貌和粒度信息,我們運用一種新型的圖像粒度粒形分析技術(shù),對5種工藝制備α氧化鋁的粒度和粒形進行了定量分析,并與激光粒度儀的粒度分析結(jié)果和SEM顆粒形貌分析結(jié)果進行了對比研究。結(jié)果表明,這種分析技術(shù)具有對顆粒形貌進行三維量化的微觀表征能力,可同時獲得包括顆粒的等效體積直徑、等效面積直徑、費雷特直徑、內(nèi)徑、厚度、最小外接圓直徑等粒度參數(shù)及分布,以及長寬比、無規(guī)度、沃德爾球形度、歐奇奧鈍度、歐奇奧粗糙度和分形維數(shù)等顆粒形貌分布數(shù)據(jù)。此外,該方法可與掃描電鏡實現(xiàn)很好的對應(yīng),并能捕捉到激光粒度分析難以統(tǒng)計到的少于1%的超大顆粒,表現(xiàn)出很高的準確性、客觀性和可靠性。因此,這種新型的圖像分析技術(shù)有望成為包括α氧化鋁在內(nèi)的多種粉體的顆粒分析測試和工藝開發(fā)研究的有力工具。