X射線熒光光譜法測定氧化鋁中雜質(zhì)含量的質(zhì)量控制方法

編號：NMJS07549

篇名：X射線熒光光譜法測定氧化鋁中雜質(zhì)含量的質(zhì)量控制方法

作者：李三艷 羅正紅 李輝 王桂花 曾奇 吳攸

關(guān)鍵詞： 質(zhì)量控制 X射線熒光光譜法(XRF) 氧化鋁 二氧化硅 三氧化二鐵 氧化鈉

機構(gòu)： 重慶旗能電鋁有限公司

摘要： 為滿足本公司生產(chǎn)需求,實驗室采用X射線熒光光譜法(XRF)測定氧化鋁中SiO 2、Fe 2O 3、Na 2O含量,而XRF檢測結(jié)果的準(zhǔn)確性取決于日常質(zhì)量控制效果。工作中總結(jié)出一套以XRF設(shè)備分析原理為基礎(chǔ)結(jié)合氧化鋁中SiO 2、Fe 2O 3、Na 2O測定經(jīng)驗的有效質(zhì)量控制方法,論述了質(zhì)量控制計劃制定的依據(jù)及質(zhì)量控制方法選擇的原則,從儀器設(shè)備檢測狀態(tài)控制、樣品制備方法選擇、XRF漂移校正、標(biāo)準(zhǔn)樣品檢測、方法比對、人員比對及留樣再測等方面詳細(xì)介紹了內(nèi)部質(zhì)量控制方法,同時運用實驗室間比對及測量審核兩種外部質(zhì)量控制方法對內(nèi)部質(zhì)量控制效果進(jìn)行檢驗。通過統(tǒng)計分析內(nèi)外部質(zhì)量控制數(shù)據(jù),發(fā)現(xiàn)實驗室用XRF測定粉末壓片法制樣的氧化鋁中SiO 2、Fe 2O 3、Na 2O含量,檢測結(jié)果準(zhǔn)確可靠,證明質(zhì)量控制方法有效。該套質(zhì)量控制經(jīng)驗對于XRF測定其他材料中雜質(zhì)元素含量的質(zhì)量控制方法的建立同樣具有參考借鑒意義。