Ag@Pt核殼結(jié)構(gòu)納米粒子催化劑在電催化過程中的失效分析

編號：NMJS06290

篇名：Ag@Pt核殼結(jié)構(gòu)納米粒子催化劑在電催化過程中的失效分析

作者：陳珂 ;紀箴 ;張一帆 ;賈成廠 ;楊善武

關(guān)鍵詞： 納米復合材料 納米顆粒 催化劑 失效 空化 電催化 伏安掃描

機構(gòu)： 北京科技大學材料科學與工程學院,北京100083

摘要： 通過種子生長法和自組裝技術(shù)合成Ag@Pt核殼結(jié)構(gòu)納米粒子（以下簡稱Ag@Pt粒子）,測量和比較在電催化循環(huán)伏安掃描（以下簡稱CV掃描）過程中失效前后的Ag@Pt粒子對甲醇的電催化性能的變化,采用透射電鏡、高分辨電鏡、X射線光電子能譜等方法研究其失效機理.結(jié)果表明：Ag@Pt粒子在循環(huán)伏安掃描的過程中會發(fā)生空化現(xiàn)象,其臨界電壓為0.5 V,空化現(xiàn)象隨時間的增長而變得明顯;Ag@Pt粒子空化后形成由Ag包覆空心Pt殼的納米粒子,這是導致其在對甲醇進行電催化氧化過程中催化性能明顯下降的原因.