Au納米耦合結(jié)構(gòu)表面等離激元的EELS分析

編號(hào)：NMJS05784

篇名：Au納米耦合結(jié)構(gòu)表面等離激元的EELS分析

作者：張奚寧[1] ;童利民[2] ;蒲繼雄[1]

關(guān)鍵詞：納米結(jié)構(gòu) 耦合結(jié)構(gòu) Au 電子能量損失譜 表面等離激元

機(jī)構(gòu)： [1]華僑大學(xué)信息科學(xué)與工程學(xué)院,福建廈門361021; [2]浙江大學(xué)光電科學(xué)與工程學(xué)院,浙江杭州310027

摘要： 應(yīng)用透射電子顯微鏡中電子能量損失譜儀（TEM-EELS）,對(duì)電子束激發(fā)的單晶Au納米線耦合結(jié)構(gòu)及單晶/多晶納米薄膜的表面等離激元（SPs）特征進(jìn)行分析.結(jié)果表明：直徑約為10nm的兩單晶Au納米線平行耦合時(shí),單根納米線和耦合結(jié)構(gòu)中均存在位于2.4eV的SPs共振,耦合結(jié)構(gòu)中SPs的縱模數(shù)增加;單晶及多晶Au納米薄膜在1.4eV附近存在SPs模式,相較于單晶薄膜,多晶Au納米薄膜的SPs共振峰位出現(xiàn)明顯紅移.