一維氧化鋅納米材料的損傷與服役行為原位研究

編號：NMJS05737

篇名：一維氧化鋅納米材料的損傷與服役行為原位研究

作者：張錚[1] ;李培峰[1,2] ;廖慶亮[1] ;張躍[1,3]

關(guān)鍵詞：一維納米材料 氧化鋅 損傷與服役行為 原位研究

機構(gòu)： [1]北京科技大學材料科學與工程學院,北京100083; [2]香港城市大學機械與生物醫(yī)學工程學系,香港999077; [3]北京市新能源材料與技術(shù)重點實驗室,北京100083

摘要： 隨著納米材料功能化研究的深入與納器件制造技術(shù)的發(fā)展,大量基于納米材料小尺寸、高靈敏度和特殊性能的新型納米器件相繼問世,并在能量轉(zhuǎn)換和信息傳感等新型電子器件上得到了廣泛應用。因此,發(fā)展新的表征手段和測試方法,發(fā)現(xiàn)和揭示納米材料與納器件基本結(jié)構(gòu)單元在服役條件下的結(jié)構(gòu)與性能演變規(guī)律,進而歸納和總結(jié)納器件服役行為成為納米材料與器件走向應用過程中亟待解決的問題。將掃描探針顯微鏡（Scanning Probe Microscopy,SPM）、掃描電子束顯微鏡（Scanning Electron Microscopy,SEM）和透射電子顯微鏡（Transmission electron microscope,TEM）等傳統(tǒng)表征技術(shù)與微納加工技術(shù)、電學測量系統(tǒng)相結(jié)合,精確模擬納米材料的服役條件,實現(xiàn)對納米材料的結(jié)構(gòu)和物性演變規(guī)律的原位研究,是揭示納米材料的損傷與服役行為的新方法。本文重點綜述近年來采用SEM和SPM表征手段下原位研究一維Zn O納米材料在力學、電學及力電耦合效應下的損傷與服役現(xiàn)象、性能演變規(guī)律及損傷基本機理。