NaYF4納米粉體掃描電鏡觀測參數(shù)探討

編號(hào)：SBJS00570

篇名：NaYF4納米粉體掃描電鏡觀測參數(shù)探討

作者：楊清華[1] ;王煥平[1] ;衛(wèi)囯英[1] ;徐時(shí)清[1]

關(guān)鍵詞：場發(fā)射掃描電鏡 NaYF4納米粉體 加速電壓 工作距離

機(jī)構(gòu)： [1]中國計(jì)量大學(xué)材料科學(xué)與工程學(xué)院材料分析測試中心,浙江杭州310018

摘要： 合適的加速電壓和工作距離對(duì)準(zhǔn)確觀察納米粉體的形貌和粒徑尺寸具有重要影響。以NaYF4納米粉體為研究對(duì)象，探討加速電壓與工作距離的匹配性以及不同加速電壓對(duì)電鏡成像的影響。通過對(duì)比相同加速電壓、不同工作距離下觀察得到的電鏡圖片，得出只有當(dāng)加速電壓與特定的工作距離匹配時(shí)才能得到清晰度高的電鏡圖片，具體加速電壓與工作距離的匹酉己值如下:1kV(4mm)，5kV(4mm)，10kV(8mm)，15kV(12mm)，20kV(15mm)，25kV(20mm)，30kV(25mm)。在合適的工作距離下，通過對(duì)比不同加速電壓觀察得到的電鏡圖片，得出隨著加速電壓的增加，電鏡圖片的清晰度呈現(xiàn)出先增強(qiáng)后減弱的趨勢，當(dāng)加速電壓為20kV時(shí)得到清晰度最佳的電鏡圖片。