邊緣效應和幾何效應對SHRIMP IIe MC氧同位素分析精度影響

編號：NMJS05618

篇名：邊緣效應和幾何效應對SHRIMP IIe MC氧同位素分析精度影響

作者：龍濤； 石堅； 包澤民； Stephen W.J.Chement； 張玉海； 田地； 劉敦一；

關鍵詞：高分辨率離子探針 氧同位素分析 邊緣效應 幾何效應

機構： 吉林大學儀器科學與電氣工程學院； 中國地質科學院地質研究所；

摘要： SHRIMPⅡe MC被廣泛應用于鋯石、磷灰石、碳酸鈣等副礦物的氧同位素分析。本工作針對其氧同位素分析過程中的邊緣效應及幾何效應（X-Y效應）,建立二次離子提取結構的SIMION仿真模型,探討了XY效應、邊緣效應的產(chǎn)生原因及影響因素,為SHRIMPⅡe MC高精度氧同位素分析提供指導。通過限制氧同位素分析點位置（樣品位于靶中間直徑10 mm內(nèi),靶表面粗糙度<1μm）,可使鋯石δ18O單點內(nèi)部精度優(yōu)于0.15‰（1σ）,外部精度優(yōu)于0.5‰（95%的置信區(qū)）;碳酸鹽礦物δ18O單點內(nèi)部精度優(yōu)于0.20‰（1σ）,外部精度優(yōu)于0.6‰（95%的置信區(qū)）。