Ba0.955Al2Si2-xTixO8∶Eu2＋熒光粉晶體結構和光譜特性

編號：CPJS04094

篇名：Ba0.955Al2Si2-xTixO8∶Eu2＋熒光粉晶體結構和光譜特性

作者：王飛[1] ;田一光[2] ;張喬[2]

關鍵詞：熒光粉 鈦置換 晶體結構 光譜特性 BaAl2Si2O8∶Eu2+

機構： [1]安徽三聯(lián)學院實驗中心,合肥230601; [2]溫州大學化學與材料工程學院,溫州325035

摘要： 由高溫固相反應制得Ba0.955Al2Si2-xTixO8∶Eu2＋（x=0~1.0）系列試樣,通過XRD和熒光光譜測試,研究各試樣的晶體結構和光譜特性。XRD分析結果表明,當Ti4＋置換Si4＋的量逐漸增至1.0時,各試樣均為單斜晶系,空間群為C2/m（12）,其晶胞參數(shù)a,b,c,β和晶胞體積V呈線性遞增,其中晶胞參數(shù)c變化幅度最大,a最小,試樣的晶粒尺寸略微減小。熒光光譜分析結果表明,試樣的熒光激發(fā)譜為寬帶,位于230~400 nm,可264 nm、303 nm、341nm和367 nm四個峰擬合成,表觀峰值位于340 nm;試樣的發(fā)射光譜為370~600 nm一寬帶不對稱峰,峰值為434nm,可擬合成419 nm和453 nm兩峰,兩擬合峰峰位隨Ti4＋置換量增加線性紅移;利用試樣熒光光譜和Van Uitert經(jīng)驗公式,得出Ba Al2Si2O8∶Eu2＋中Ba2＋的配位數(shù)為9。