X射線熒光光譜法同時(shí)測定鋁土礦樣品中鋁硅鐵

編號：FTJS06038

篇名：X射線熒光光譜法同時(shí)測定鋁土礦樣品中鋁硅鐵

作者：張巖[1]

關(guān)鍵詞：X射線熒光光譜法 鋁土礦 鋁硅鐵 測定

機(jī)構(gòu)： [1]河南省地質(zhì)礦產(chǎn)勘查開發(fā)局第二地質(zhì)礦產(chǎn)調(diào)查院,河南鄭州450001

摘要： 近年來，隨著社會(huì)的不斷進(jìn)步以及經(jīng)濟(jì)的迅猛發(fā)展，科技水平顯著提升，X射線熒光光譜分析應(yīng)運(yùn)而生，其優(yōu)勢在于樣品制作便捷且自動(dòng)化程度較高、可實(shí)現(xiàn)成本節(jié)約、分析精度良好等，在礦山以及地質(zhì)、石油、冶金、商檢籍建材等多領(lǐng)域中獲得普及使用。作為氧化鋁生產(chǎn)的關(guān)鍵原材料，鋁土礦的重要性不容忽視，在其樣品測定過程中可優(yōu)化應(yīng)用X射線熒光光譜分析法，經(jīng)濟(jì)效益十分顯著。在此，本文將針對X射線熒光光譜法測定鋁土礦樣品成分鋁硅鐵進(jìn)行簡要探討。