差示光度法測定高嶺土及黏土中的二氧化硅

編號：FTJS05884

篇名：差示光度法測定高嶺土及黏土中的二氧化硅

作者：楊小燕[1] ;田耀[1] ;何小東[1]

關(guān)鍵詞：二氧化硅 示差光度法 高嶺土 黏土

機(jī)構(gòu)： [1]河南省地質(zhì)礦產(chǎn)勘查開發(fā)局第一地質(zhì)礦產(chǎn)調(diào)查院,河南洛陽471023

摘要： 本文以氫氧化鉀為溶劑分解試樣，以含 EDTA 的稀鹽酸浸取熔塊，用鉬藍(lán)差示光度法測定高嶺土、黏土中的二氧化硅。選取相應(yīng)的標(biāo)樣繪制標(biāo)準(zhǔn)曲線，采用分段比色，以一定濃度的二氧化硅標(biāo)準(zhǔn)溶液做參比繪制工作曲線，降低光度法的測定誤差，該法不僅有效降低了基體效應(yīng)的影響，且相對標(biāo)準(zhǔn)偏差（RSD，n=10）＜1％，具有樣品處理簡便、快捷，測試線性范圍寬，重現(xiàn)性好，結(jié)果準(zhǔn)確、可靠等優(yōu)點。經(jīng)一級標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)驗證，測定結(jié)果與推薦值相符，滿足地質(zhì)礦產(chǎn)實驗室測試質(zhì)量管理規(guī)范的要求，可以用于高嶺土，黏土中硅的測定。