粉末灼燒壓片-X射線熒光光譜法測定石灰類材料中組分基體干擾的消除方法研究

編號：FTJS05788

篇名：粉末灼燒壓片-X射線熒光光譜法測定石灰類材料中組分基體干擾的消除方法研究

作者：羊紹松

關(guān)鍵詞：X射線熒光光譜法 燒結(jié)用石灰 粉末壓片 氧化鈣 氧化鎂 二氧化硅

機(jī)構(gòu)： 攀枝花鋼釩有限公司制造部,四川攀枝花617000

摘要： 通過石灰石標(biāo)準(zhǔn)樣品高溫灼燒后繪制校準(zhǔn)曲線,解決了繪制校準(zhǔn)曲線用活性類石灰無標(biāo)準(zhǔn)樣品,又難同時準(zhǔn)備足夠多且有梯度生產(chǎn)樣品等難題;燒結(jié)用石灰樣品經(jīng)高溫灼燒后壓片制樣,大大減小了石灰樣品基體干擾并完全消除粒度效應(yīng),從而實(shí)現(xiàn)粉末壓片-X射線熒光光譜法對石灰石、活性石灰、生石灰中氧化鈣、氧化鎂和二氧化硅含量的測定。氧化鈣、氧化鎂和二氧化硅校準(zhǔn)曲線的相關(guān)系數(shù)均大于0.999。對同一活性石灰樣品進(jìn)行精密度考察,3種組分測定結(jié)果的相對標(biāo)準(zhǔn)偏差（RSD,n=11）在0.086%~2.3%范圍內(nèi)。對生石灰、活性石灰煉鐵燒結(jié)工序生產(chǎn)樣品進(jìn)行分析,測定值與熔融制樣-X射線熒光光譜法的測定值一致;對石灰石標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行分析,測定值與校正后的認(rèn)定值相吻合。