云母礦粉中游離二氧化硅含量的快速測定

編號：FTJS05673

篇名：云母礦粉中游離二氧化硅含量的快速測定

作者：李昆； 王文寶；

關(guān)鍵詞：白云母； 游離二氧化硅含量； X射線衍射(XRD)； Rietveld全譜擬合法；

機構(gòu)： 蘇州大學(xué)分析測試中心；

摘要： 以具有復(fù)雜晶體結(jié)構(gòu)、X射線衍射峰與游離二氧化硅衍射峰嚴重重疊及易擇優(yōu)取向等特點的云母礦粉為研究對象,探討了利用具有超能探測器的X射線衍射儀在連續(xù)掃描模式下收譜以及Rietveld全譜擬合快速測定其中游離二氧化硅含量的可行性。結(jié)果表明:與步驟復(fù)雜、測試周期長等的傳統(tǒng)X射線衍射標準曲線法相比較而言,該方法不僅操作簡便、收譜快速而且結(jié)果準確性高、重現(xiàn)性好。重現(xiàn)性測定的最大標準偏差為1.39%。實際樣品測試也表明此方法是一種簡便易行的測定各類粉塵中游離二氧化硅含量的好方法。