缺陷對(duì)碳納米管摩擦與運(yùn)動(dòng)行為的影響

編號(hào)：NMJS05149

篇名：缺陷對(duì)碳納米管摩擦與運(yùn)動(dòng)行為的影響

作者：李瑞； 孫丹海；

關(guān)鍵詞：碳納米管； 缺陷； 摩擦；

機(jī)構(gòu)： 北京科技大學(xué)機(jī)械工程學(xué)院；

摘要： 本文采用分子動(dòng)力學(xué)方法研究了公度、無(wú)公度情況下含空位、Stone-Thrower-Wales(STW)型缺陷的單壁碳納米管(SWCNT)在石墨基底上的摩擦與運(yùn)動(dòng)行為.結(jié)果表明,公度時(shí)缺陷的存在導(dǎo)致了界面局部無(wú)公度,減小了摩擦.隨著碳納米管底部STW缺陷的增多,碳納米管變形增大,側(cè)向力波動(dòng)的幅值減小,局部無(wú)公度性增強(qiáng),摩擦減小.含空位缺陷的碳納米管所受的摩擦力明顯大于含STW缺陷的碳納米管,原因在于含空位缺陷的碳納米管在運(yùn)動(dòng)的后期出現(xiàn)了明顯的翻轉(zhuǎn)現(xiàn)象,增大了能量耗散.無(wú)公度時(shí),碳納米管與石墨基底間的摩擦力很小,缺陷對(duì)其摩擦力影響不大,原因在于無(wú)論是否含有缺陷,碳納米管與石墨組成的界面的無(wú)公度性差別不大.