含表界面效應(yīng)的核殼納米線界面失配位錯(cuò)形核

編號(hào)：NMJS04525

篇名：含表界面效應(yīng)的核殼納米線界面失配位錯(cuò)形核

作者：章的； 劉又文； 趙迎新

關(guān)鍵詞：螺型失配位錯(cuò)； 核殼納米線； 臨界膜厚度； 表界面效應(yīng)

機(jī)構(gòu)： 湖南大學(xué)汽車(chē)車(chē)身先進(jìn)設(shè)計(jì)制造國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室； 湖南大學(xué)機(jī)械與運(yùn)載工程學(xué)院

摘要： 研究了考慮表面和界面效應(yīng)的核殼納米線材料中螺型失配位錯(cuò)形核的臨界情況。運(yùn)用復(fù)勢(shì)方法獲得了納米線和薄膜區(qū)域復(fù)勢(shì)函數(shù)的解析解。主要討論了表面和界面效應(yīng)對(duì)核殼納米線中螺型失配位錯(cuò)形核的影響規(guī)律。研究表明:正(負(fù))表面、界面效應(yīng)會(huì)減小(增大)螺型失配位錯(cuò)形核時(shí)所需的膜厚度范圍和臨界剪切模量;當(dāng)其他參量為某些定值時(shí),無(wú)論膜厚度為多大,正表面、界面彈性常數(shù)都存在使螺型位錯(cuò)不能形核的可能;正(負(fù))表面、界面殘余應(yīng)力會(huì)增大(縮小)螺型失配位錯(cuò)形核時(shí)所需的膜厚度范圍;正(負(fù))表面、界面效應(yīng)會(huì)增大(減小)螺型失配位錯(cuò)形核時(shí)所需的臨界膜厚度和失配應(yīng)變臨界值。