二氧化鈦表面包覆SiO2的最優(yōu)條件試驗研究

編號：CPJS01893

篇名：二氧化鈦表面包覆SiO2的最優(yōu)條件試驗研究

作者：張先鵬； 袁海斌； 李實秾； 徐祖彪； 李恩明； 彭祥燕

關(guān)鍵詞：正交試驗； 二氧化鈦； 硅包覆

機構(gòu)： 中鹽湖南株洲化工集團有限公司研發(fā)中心

摘要： 采用正交試驗方法,利用高分辨透射電鏡的檢測手段和對包硅后二氧化鈦消色力及吸油量的分析,得到了二氧化鈦表面包覆SiO2的最優(yōu)試驗條件。