焦磷酸法測定粉塵中游離二氧化硅的自制質(zhì)控樣應(yīng)用初探

編號：FTJS03738

篇名：焦磷酸法測定粉塵中游離二氧化硅的自制質(zhì)控樣應(yīng)用初探

作者：鄭艷艷； 梁丹玉； 梁恒秋； 謝晶； 凌健安； 甘永金

關(guān)鍵詞：焦磷酸法,SiO2測定； 質(zhì)量控制

機(jī)構(gòu)： 廣西壯族自治區(qū)職業(yè)病防治研究院

摘要： 目的探討適用于粉塵中游離二氧化硅(SiO2)日常測定的室內(nèi)質(zhì)量控制。方法運(yùn)用自制的粉塵質(zhì)控樣品隨同送檢樣品一同測定,運(yùn)用即刻法和Levey-Jennings(L-J)質(zhì)控圖法對質(zhì)控結(jié)果進(jìn)行分析判斷。結(jié)果即刻法剔除1次"告警"數(shù)據(jù),得到20個(gè)在控的數(shù)據(jù)繪制L-J質(zhì)控圖;日常檢測質(zhì)控中運(yùn)用L-J質(zhì)控圖及時(shí)發(fā)現(xiàn)第21次實(shí)驗(yàn)中的誤差,查找原因糾正后質(zhì)控結(jié)果在允許范圍內(nèi)。結(jié)論將即刻法和L-J質(zhì)控圖聯(lián)合運(yùn)用,可實(shí)現(xiàn)對游離SiO2檢測的質(zhì)量控制。