SnO2納米線制備及缺陷態(tài)發(fā)光研究

編號(hào)：NMJS03778

篇名：SnO2納米線制備及缺陷態(tài)發(fā)光研究

作者：秦磊； 范毅杰； 宮戀； 于紀(jì)燁； 戴俊

關(guān)鍵詞：二氧化錫； 納米結(jié)構(gòu)； 缺陷態(tài)

機(jī)構(gòu)： 江蘇科技大學(xué)數(shù)理學(xué)院

摘要： 利用氣相傳輸法制備二氧化錫納米線,通過X射線衍射(XRD)和掃描電子顯微鏡(SEM)及高分辨透射電子顯微鏡(TEM)對(duì)產(chǎn)物晶體結(jié)構(gòu)、形貌和微結(jié)構(gòu)進(jìn)行了表征.該樣品熒光光譜中主要包含兩個(gè)發(fā)光帶,分別位于360 nm及445 nm.X射線光電子能譜(XPS)結(jié)果顯示該納米結(jié)構(gòu)產(chǎn)生的藍(lán)色缺陷態(tài)輻射主要源于氧空位產(chǎn)生的缺陷態(tài)深能級(jí).