化學(xué)鍍銅Si基底上碳納米管薄膜強(qiáng)流脈沖發(fā)射穩(wěn)定性研究

編號(hào)：NMJS03773

篇名：化學(xué)鍍銅Si基底上碳納米管薄膜強(qiáng)流脈沖發(fā)射穩(wěn)定性研究

作者：麻華麗； 張新月； 曾凡光； 王淦平； 向飛

關(guān)鍵詞：連續(xù)強(qiáng)流脈沖發(fā)射； 碳納米管； 化學(xué)鍍銅； 穩(wěn)定性

機(jī)構(gòu)： 鄭州航空工業(yè)管理學(xué)院數(shù)理系； 中國(guó)工程物理研究院應(yīng)用電子學(xué)研究所高功率微波技術(shù)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室

摘要： 為了研究碳納米管薄膜在強(qiáng)流連續(xù)多脈沖下的發(fā)射特性,采用酞菁鐵高溫?zé)峤夥椒ㄔ诨瘜W(xué)鍍銅硅基底上生長(zhǎng)了碳納米管薄膜(Si/Cu-CNTs),作為強(qiáng)流脈沖發(fā)射陣列。在20GW脈沖功率源系統(tǒng)中采用二極結(jié)構(gòu)對(duì)Si/Cu-CNTs薄膜進(jìn)行連續(xù)多脈沖高電流發(fā)射測(cè)試,結(jié)果表明:連續(xù)多脈沖情況下,峰值電場(chǎng)達(dá)到29.1V/μm,發(fā)射電流密度為0.892kA/cm2時(shí),Si/Cu-CNTs薄膜仍具有良好的發(fā)射可重復(fù)性,連續(xù)發(fā)射的每個(gè)電流波形基本一致,發(fā)射穩(wěn)定性好。