密度梯度離心分離法研究銀納米片邊緣晶面的反應(yīng)活性

編號：NMJS03487

篇名：密度梯度離心分離法研究銀納米片邊緣晶面的反應(yīng)活性

作者：張國新； 黃鳳琴； 羅亮； 孫曉明；

關(guān)鍵詞：密度梯度離心； 納米銀片； 刻蝕反應(yīng)； 晶面活性；

機(jī)構(gòu)： 北京化工大學(xué)理學(xué)院；

摘要： 利用密度梯度法對納米銀片進(jìn)行離心分離,在分離過程中使用巰基乙醇對銀片進(jìn)行輕度刻蝕。用透射電鏡、紫外可見分光光度計(jì)對分離后的各層樣品進(jìn)行表征,結(jié)果表明:不同尺寸的銀納米片的邊緣具有不同的反應(yīng)活性,不同晶面的晶區(qū)大小同樣影響銀納米片的反應(yīng)活性;在銀片邊長為(135±5)nm時(shí)存在一個(gè)尺寸閾值,低于此尺寸閾值,銀片(110)晶面的反應(yīng)活性高于(100)晶面的活性,而高于此尺寸閾值,(100)晶面的活性高于(110)晶面的活性。