非對稱場流分離技術(shù)用于納米顆粒的表征

編號：NMJS03471

篇名：非對稱場流分離技術(shù)用于納米顆粒的表征

作者：劉攀攀； 全燦； 李紅梅； 金君素；

關(guān)鍵詞：非對稱場流分離； 掃描電鏡； 納米顆粒； 表征；

機(jī)構(gòu)： 北京化工大學(xué)化學(xué)工程學(xué)院； 中國計量科學(xué)研究院化學(xué)計量與分析科學(xué)研究所；

摘要： 采用非對稱場流分離技術(shù)(Asymmetrical flow field-flow fractionation,AF4)對標(biāo)準(zhǔn)聚苯乙烯顆粒粒徑進(jìn)行表征。利用非對稱場流分離儀以0.1%SDS(十二烷基磺酸鈉)和0.02%NaN3的水溶液為流動相,測定標(biāo)準(zhǔn)的聚苯乙烯納米顆粒在流體流場作用下通過分離腔室的保留時間,以確定納米顆粒的平均粒徑。優(yōu)化了聚焦時間、橫向流速、進(jìn)樣量、主體流速等實(shí)驗(yàn)條件,建立了利用AF4準(zhǔn)確表征納米顆粒的方法,并與掃描電鏡(Scanning electron microscope,SEM)的表征結(jié)果進(jìn)行比較。結(jié)果表明,AF4的表征結(jié)果比SEM更接近于聚苯乙烯顆粒的標(biāo)準(zhǔn)粒徑,具有更高的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確度。本方法可作為納米粒徑表征的一種準(zhǔn)確方法。