基于連續(xù)和脈沖超聲波對SiC顆粒粒度表征的對比

編號：FTJS03495

篇名：基于連續(xù)和脈沖超聲波對SiC顆粒粒度表征的對比

作者：吳健； 蘇明旭； 蔡小舒； 王煒慧； 孫磊；

關(guān)鍵詞：連續(xù)波； 脈沖波； 超聲； 顆粒粒度； 測量；

機(jī)構(gòu)： 上海理工大學(xué)顆粒與兩相流測量研究所；

摘要： 為了研究連續(xù)和脈沖超聲波2種不同激勵方式對顆粒粒度表征的影響,設(shè)計了2套分別基于連續(xù)和脈沖超聲波對顆粒粒度表征的實驗系統(tǒng),在相同實驗條件下,利用一對水浸式探頭構(gòu)成一發(fā)一收的模式,采用變聲程法,對4種不同濃度的SiC懸濁液聲衰減譜進(jìn)行測量.結(jié)果表明,2套系統(tǒng)所測的聲衰減譜趨勢相同,連續(xù)波激勵下的聲衰減譜數(shù)值偏大10%左右.結(jié)合反演算法得出了SiC微粉顆粒的粒度分布,發(fā)現(xiàn)不同激勵方式下的顆粒粒度分布吻合程度較好,偏差均在5%以內(nèi),說明不同激勵方式對顆粒粒度表征最終結(jié)果影響不大.