鋁電解質(zhì)分子比、Al_2O_3、CaF_2的X射線熒光光譜法測定

編號：CSJS00074

篇名：鋁電解質(zhì)分子比、Al_2O_3、CaF_2的X射線熒光光譜法測定

作者：林九； 喻小春； 趙海兵； 王玉杰；

關(guān)鍵詞：X射線熒光光譜法； 鋁電解質(zhì)； 檢測；

機(jī)構(gòu)： 江蘇大屯鋁業(yè)有限公司；

摘要： 鋁電解質(zhì)分子比、Al2O3、CaF2是鋁電解生產(chǎn)中的幾項(xiàng)重要指標(biāo)。用X射線熒光光譜法測定電解質(zhì)中各元素的濃度,達(dá)到計(jì)算分子比、測試氧化鋁和氟化鈣濃度的目的。將研磨到一定粒度的樣品在30kN的壓力下壓成圓片,然后在優(yōu)化的熒光測試條件下進(jìn)行測定,采用電解質(zhì)標(biāo)樣建立校準(zhǔn)曲線,引入數(shù)學(xué)模型校正基體效應(yīng),扣除背景干擾,得到可以用于指導(dǎo)生產(chǎn)的各項(xiàng)理化指標(biāo)結(jié)果。該方法已用于多元鋁電解質(zhì)成分的測定,分子比、CaF2的測定結(jié)果與化學(xué)定值相近,Al2O3的測試結(jié)果與化學(xué)定值有最大0.20%的誤差,但對于電解生產(chǎn)中氧化鋁濃度的模糊控制并無大方面的影響,同樣適用于指導(dǎo)生產(chǎn)。