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高純金屬主要用于電子化工材料和特殊合金材料。隨著大規(guī)模發(fā)展半導體、功能鍍膜靶材、宇航工業(yè)、超導產業(yè)、現代化無線電通信等技術，高純金屬的市場需求量不斷增長，高純金屬材料的純度要求也越來越高。

金屬材料的純度決定了它的特殊性能，但即便是少量or微量的雜質也會對金屬的性能造成強烈影響，因此高純金屬的成分檢測是把控高純金屬性能、質量的重要且必要手段。

ARTUS 10全譜直讀光譜儀作為精密尖端的檢測設備，在高純金屬分析方面，有著超常的優(yōu)勢。

ARTUS 10全譜直讀光譜儀有效解決了各類傳統高純金屬檢測設備的應用痛點，例如傳統檢測前需要對檢測的樣品進行繁瑣的前處理工作、儀器檢出限不夠低、檢測時間長等。

ARTUS 10采用科研級CMOS探測器，在優(yōu)秀的全元素分析能力基礎上，開創(chuàng)了微量及痕量級元素分析的新紀元。

40年的光譜技術積累，儀器終身不需漂移校正，重新定義光學儀器穩(wěn)定性。

使用簡單方便，檢測速度快，大大提高了樣品分析的效率。

如今，ARTUS 10全譜直讀光譜儀已廣泛應用于許多高純金屬生產企業(yè)中，幫助企業(yè)有效促進高純金屬材料產業(yè)化研發(fā)工作，檢測數據穩(wěn)定可靠，在保障質的同時也有了量的飛躍，提高企業(yè)材料生產制造工作效率。