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            Inline分光計測儀器 -為提升品質(zhì)做出貢獻-

            大塚電子(蘇州)有限公司  2023-04-04  點擊710次

            1.開頭

            近年來,在平板示器、包裝用薄膜、光學(xué)薄膜等領(lǐng)域出現(xiàn)了各種各產(chǎn)品,特別是在產(chǎn)品中,光學(xué)特性成最重要的特性之一。

            提供用于產(chǎn)質(zhì)量控制的分光量系統(tǒng)本文介紹這些系統(tǒng)。

            2.什么是分光

            (1) 光特

            光具有粒子和波的特性。當(dāng)光以波表示時,波的波峰到波峰或波谷到波谷的距離稱為波長(圖1)。我們通??吹降年柟夂蜔晒鉄舭鞣N波長的光。

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            (圖1)

            光根據(jù)波長分類如下(圖1)。波長在380 nm和780 nm之間的光稱為可見光。顧名思義,就是人眼可以識別的光,從最短的波長來看是紫、靛、藍、綠、黃、橙、紅。我們看到的物體的顏色是由可見光各個波長的強度平衡決定的。波長小于380 nm的光稱為紫外光,波長大于780 nm的光稱為紅外光,人眼無法察覺。

            (2) 分光的定義和分光的例子

            分光是將包含各種波長的光分離成波長分量。分光的一個例子是棱鏡(圖2)。棱鏡使用由于棱鏡內(nèi)的波長而產(chǎn)生的折射率差異來分離光。隨著波長變短,折射率增加,并且光彎曲的角度(折射角)增加。由于這個折射角的不同,光被分散了。

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            (圖2)

            (3)光譜儀

            我司的光譜儀以不同于棱鏡的方式分散光(圖3)。首先,待測光由光纖接收并引導(dǎo)至檢測器。進入檢測器的光照射到光柵(衍射光柵)上并分離成各個波長分量。由單行光電探測器檢測每個波長分量的光譜色散光。

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            (圖3)

            光柵是在其表面刻有多個凹槽的光學(xué)元件,如果波長為λ的光以角度i入射到光柵上,它會在角度θ的方向上發(fā)生衍射。

            mλ=d(sin i±sinθ) (m:次數(shù)、d:凹槽間距)

            成立(圖3)。如果入射光和衍射光相對于衍射光柵表面的法線在同一側(cè),則符號為正,如果它們在不同側(cè),則符號為負(fù)。光柵的分光利用光的波長引起的衍射角的差異。

            (4) 從分光計測可以獲取的信息

            以下是通過分光測量可以獲取信息的說明。

            1.分光透過率通過測量物體被光照射時通過物體的光量,可以知道物體的透射波長特性。

            2.分光反射率通過測量物體受光照射時物體表面反射的光,可以知道材料的反射波長特性。

            3.膜厚當(dāng)用光照射涂有薄膜的基板時,薄膜表面的反射光(R1)和薄膜/基板界面的反射光(R2)(圖4)。此時,當(dāng)R1和R2的波峰重疊時,光線相互加強。
             另一方面,當(dāng) R1 和 R2 的波峰和波谷重疊時,光被抵消了。結(jié)果,光譜反射率隨波長變化并形成波。這樣的波形稱為干涉波形。這種干涉波形的形狀取決于材料的折射率和薄膜的膜厚,呈現(xiàn)出獨特的波形。因此,如果材料的折射率已知,則可以測量薄膜的膜厚。

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            (圖4) 

            4. 偏光(極化、延遲)

            自然光,如陽光或燈光,會在不同的方向上振蕩。偏光子是一種光學(xué)元件,它可以從沿各個方向振蕩的光中僅提取沿特定方向振蕩的光。

            通過使用偏光子,可以測量相位差膜的相位差(圖5)。

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            (圖5)

            相位差膜是在x軸方向和y軸方向具有不同折射率的膜,導(dǎo)致膜中在x軸和y軸上振動的波的速度不同。結(jié)果,使在進入膠片之前對齊的光產(chǎn)生異相。這種異相偏差稱為相位差(δ)。

            δ=2πΔnd/λ (Δn:折射率差、d:薄膜的厚度)

            成立。折射率差(Δn)與膜厚(d)的乘積(Δnd)稱為相位差,因為Δn有波長分布,所以相位差也有波長分布。

            通過將入射光和透射光的偏振器布置成它們的透射軸垂直,并在它們之間放置相位膜來進行相位差(延遲)測量。透射光偏光子在透射軸方向上的強度根據(jù)薄膜的相位延遲而變化。由于相位差(延遲)的大小由光的波長、折射率的差異和薄膜的厚度決定,因此可以從光譜透射率的測量結(jié)果中測量相位延遲。

            5.物體色 (透過色、反射色)

            根據(jù)分光透射率或分光反射率光譜數(shù)據(jù),通過使用基于JIS標(biāo)準(zhǔn)的計算方法以數(shù)值方式表示顏色,可以知道物體的透射或反射顏色。一個例子是 Y,x,y 顏色系統(tǒng)(圖 6)。Y值表示亮度,x和y值表示顏色。

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            (圖6)

            3.分光計測光學(xué)系

            有幾種類型的光學(xué)系統(tǒng)用于分光測。此處介紹這些光學(xué)系統(tǒng)(圖7)。

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            (圖7)

            (1) 透過率計測

            用于透射率測量的光學(xué)系統(tǒng),是將樣品放在發(fā)光光纖和光接收光纖之間進行測量的系統(tǒng)。另一個系統(tǒng),使用積分球來測量透過樣品的所有光。積分球是內(nèi)表面涂有高反射和漫射材料(如硫酸鋇)的球體。

            (2) 反射率(膜厚)計測

            用于反射率測量的光學(xué)系統(tǒng),使用集成了投光光纖和光接收光纖的Y型光纖,將光垂直入射樣品表面并測量垂直反射的光。其中,有將樣品放置在樣品臺上,待測面朝下,從下方照射光線的類型,還有一種將樣品放置在待測面朝上,光線照射的類型。從上方照射。另外,還有改變角度進行測量的系統(tǒng)。通過改變照射角度和測量角度進行測量,可以知道樣品反射率的角度依賴性。

            4.inline在線分光計測系統(tǒng)

            我們提供使用光譜儀的在線分光測量系統(tǒng)。以下是單體型、走型和光纖開關(guān)型的介紹。

            (1) 單體型(圖8)

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            (圖8)

            單體型是不使用光纖開關(guān)或走查裝置的測量系統(tǒng),例如透過單點測量系統(tǒng)和使用兩個光源并使用快門機構(gòu)在測量點之間切換的反射測量系統(tǒng)。根據(jù)組合,各種測量系統(tǒng)都是可能的。

            (2) 走查型(圖9)

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            (圖9)

            在走查型中,將兩個導(dǎo)軌裝置上下配置進行透射率測量,并安裝投光光纖和接收光纖。積分球可以安裝在光接收側(cè)。另一方面,對于反射率測量,一根Y型光纖放置在一個導(dǎo)軌裝置上。沿樣品寬度移動并在任意點進行測量。

            走查型可任意設(shè)定測量位置和測量點數(shù),可自由進行測量。此外,光強強,測量時間短。

            (3) 光纖開關(guān)型 (圖10)

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            (圖10) 

            在光纖開關(guān)型中,來自光源的光由多分支光纖分束。在透射率測量的情況下,樣品被來自投光光纖的光照射,透射光被面對它的接收光纖接收。積分球也可以安裝在光接收側(cè)。透射光進入光纖開關(guān),被檢測器檢測到。另一方面,在反射率測量中,Y 型光纖用于照射樣品并接收來自樣品的反射光。接收到的光進入光纖開關(guān),并被檢測器檢測到。在任何一種情況下,都可以通過使用光纖開關(guān)更改要測量的點來測量多個點。

            光纖開關(guān)型無可動部位,因此可用于真空腔內(nèi)測量。它還具有節(jié)省空間的優(yōu)點,可以安裝在各種不同的位置。

            5.計測例

            通過組合系統(tǒng)(單機、走查、光纖開關(guān))、測量方法(透射、反射)和測量項目(透射率、反射率、膜厚、相位延遲、顏色等),可以組成各種測量系統(tǒng)進行在線分光測量。以下是一些測量系統(tǒng)示例介紹。

            (1) 單體型:1點反射型

            該系統(tǒng)由探測器、光源、PC、不間斷電源等組成,這些設(shè)備被安置在一個收納柜里。測量項目包括指定點的反射率(光譜、數(shù)字值、趨勢)和膜厚(數(shù)字值、趨勢)等。

            (2) 單體型:相位延遲3點計測型(圖11)

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            (圖11)

            相位延遲3點測量型由檢測器、帶快門的光源、PC、偏光光學(xué)系統(tǒng)等組成,PC以外的所有部件都存放在收納柜里。有3個測量點,通過用快門控制三個光源對每個點進行測量。此外,由于偏光棱鏡是可拆卸的,因此通常的透射率測量也是可能的。測量項目包括透射率(光譜、最大值和最小值及其波長數(shù)字值和趨勢)、相位延遲數(shù)字值。

            除了本次介紹的系統(tǒng)外,還有采用光子晶體偏振器陣列CCD模塊的在線延遲測量系統(tǒng)RE-100(圖12)。該系統(tǒng)可以同時高速測量小延遲樣品的延遲和主軸取向。相位差片(相位差、主軸方位角)、偏光片(透射軸角)等是測量對象。

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            (圖12)

            (3) 走查型:透過型

            走查型系統(tǒng)由檢測器、光源、PC、導(dǎo)軌系統(tǒng)等構(gòu)成。導(dǎo)軌系統(tǒng)以外的設(shè)備被收納在收納柜里。測量點可任意設(shè)置,測量項目包括透射率(光譜、數(shù)字值、趨勢)、透射顏色(數(shù)字值、趨勢)等。

            (4) 光纖開關(guān)型:3點反射型 (圖13)

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            (圖13) 

            光纖開關(guān)型系統(tǒng)由檢測器、光纖開關(guān)、光源、PC等組成,設(shè)備收納在收納柜中。這是一個3點測量的示例。光纖從光源直接進入切換器,用于檢查光源的光強變化。測量項目包括反射率(光譜、數(shù)字值、趨勢)、膜厚(數(shù)字值、趨勢)、反射顏色(數(shù)字值、趨勢)等。

            迄今為止介紹的系統(tǒng)測量的樣品包括AR(減反射)膜、LR(低反射)膜、偏光膜、延遲膜、封裝膜、玻璃基板上的涂膜等。

            (5) 計測軟件

            作為測量軟件的示例,我們介紹了使用切換器類型的AR膜的3點膜厚度測量屏幕(圖14)。測量畫面由反射光譜、膜厚/指定波長的反射數(shù)值、趨勢圖等組成。每個屏幕的布局和大小都可以自由更改。

            我們?yōu)槊靠顪y量系統(tǒng)定制了軟件,可以與系統(tǒng)一起提供滿足客戶要求的計測軟件。

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            (圖14)

            6.結(jié)語

            分光測量對于控制薄膜和玻璃的光學(xué)特性是必不可少的,本文介紹的測量系統(tǒng)是有效的。通過提供在線分光測量系統(tǒng),我們希望為質(zhì)量控制和產(chǎn)量提高做出貢獻,并滿足新的需求。

            如您需要進一步了解,歡迎致電與我們?nèi)〉寐?lián)絡(luò)。

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