上海胤煌科技有限公司-傘棚燈、不溶性微粒
已認證
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隨著納米技術和材料科學的發(fā)展,對顆粒尺寸、形態(tài)及其表面性質(zhì)的研究變得尤為重要。美國MAS公司推出的超聲電聲法納米粒度及ZETA電位分析儀,為科研人員提供了一種全新的測量手段。本文將對該分析儀的可測量參數(shù)及主要特點進行簡要介紹。
可測量參數(shù)
該分析儀能夠提供一系列關鍵參數(shù)的測量,包括但不限于:
粒度分布:評估顆粒大小的變化范圍,有助于理解材料的均勻性。
固含量:測定溶液中固體顆粒的百分比,對控制產(chǎn)品質(zhì)量至關重要。
Zeta電位:反映顆粒表面帶電情況,影響顆粒間的聚集與分散行為。
等電點(IEP):指顆粒表面電荷為零時的pH值,影響顆粒穩(wěn)定性。
電導率:測量溶液傳導電流的能力,與離子濃度相關。
pH值:表示溶液酸堿度,影響顆粒表面電荷狀態(tài)。
溫度:影響顆粒的行為和反應速率。
聲衰減:評估介質(zhì)吸收聲波的能力,與顆粒濃度和粒徑有關。
主要特點
多組分分析能力:能夠同時分析多種分散物質(zhì)的混合體,為復雜體系的研究提供了便利。
等電點測定:無需依賴雙層理論模型,直接測定等電點,提供更準確的結(jié)果。
適應性強:適用于高導電性體系,拓寬了儀器的應用范圍。
抗干擾性強:能夠排除雜質(zhì)的影響,減少樣品污染對結(jié)果的影響。
無水體系測量:支持對無水環(huán)境中的樣品進行測量,滿足特定研究需求。
多頻電聲技術:采用多頻電聲方法測量Zeta電位,無需預先知道顆粒尺寸。
高濃度樣品直接測量:允許對高達60%體積比的高濃度樣品進行直接測量,避免了因稀釋帶來的誤差。
自動滴定功能:具備自動電位滴定功能,簡化了實驗操作流程。
美國MAS超聲電聲法納米粒度及ZETA電位分析儀以其獨特的技術優(yōu)勢,成為了研究納米顆粒及其分散體系的重要工具。它不僅可以應用于基礎科學研究,還能服務于工業(yè)生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制,為新材料的研發(fā)與應用開辟了新的途徑。
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