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TEM 線分辨率

≤ 0.10 nm

LACBED **會聚角

≥ 100 mrad

**衍射角

24°

STEM 分辨率

≤ 0.16 nm

EDS

側(cè)插式，可伸縮

電子槍類型

場發(fā)射槍或高亮度場發(fā)射槍

Z 軸移動總行程 (標準樣品桿)

± 0.375 mm

三維重構(gòu)樣品桿** α 傾轉(zhuǎn)角 (高視野樣品桿)

± 90°

樣品漂移 (標準樣品桿)

≤ 0.5 nm/min

雙 EDS 技術(shù)可實現(xiàn)。從單 30 mm² 探頭到可實現(xiàn)高通量 (或低劑量)分析的雙 100 mm² 探頭，可根據(jù)您的需求

選擇*理想的 EDS。

高質(zhì)量 S/TEM 圖像和準確的 EDS。借助創(chuàng)新直觀的 Velox 軟件用戶界面，可通過極其簡單的操作方法，獲得 高質(zhì)量 TEM 或 S/TEM 圖像。Velox 軟件內(nèi)置的特有的 EDS 吸收校準功能可實現(xiàn)*精確的定量分析。

**的原位動態(tài)分析功能。可加裝三維重構(gòu)或原位分析樣品桿、高速相機、智能軟件。 X-TWIN 大物鏡間距可實現(xiàn)三維成像和原位數(shù)據(jù)采集，同時**限度避免分辨率和分析能力的損失。

提高生產(chǎn)效率。超穩(wěn)定鏡筒設(shè)計；借助 SmartCam 實現(xiàn)遠程操作；物鏡功率恒定，可實現(xiàn)快速電鏡模式和高壓切換；并可輕松、快速切換多用戶環(huán)境。

**可重復性的可靠數(shù)據(jù)。所有日常 TEM 合軸，例如聚焦、中心高度調(diào)節(jié)、電子束偏轉(zhuǎn)、聚光鏡光闌對中、電子束傾斜樞軸點以及旋轉(zhuǎn)中心調(diào)整都是自動完成的，以確保用戶總是從**成像條件開始。實驗可多次重復，因而用戶可以更多關(guān)注研究課題而不再糾結(jié)于電鏡操作。 

快速大視場成像。大視場的 4k × 4k Ceta CMOS 相機可以在整個高壓范圍實現(xiàn)高靈敏度、高速實時數(shù)字變焦。

緊湊型設(shè)計。本設(shè)備具有更小的尺寸和占地面積，便于在更具挑戰(zhàn)性的較小空間內(nèi)安裝，同時有助于維修和降低安裝和維護成本。