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Litesizer DLS 系列是安東帕公司的動態(tài)光散射粒度/Zeta 電位分析儀產(chǎn)品，用于表征從納米到微米粒子的粒度、粒度分布、Zeta 電位、分子量、粒子濃度、透光率等特性，具有適用濃度范圍寬、一鍵操作完成測試、功能全面等優(yōu)點。在 Litesizer DLS 100 和Litesizer DLS 500 取得了優(yōu)秀銷售和應(yīng)用成績的基礎(chǔ)上，安東帕推出了功能更為強大的Litesizer DLS 700。
安東帕 Litesizer DLS 700
動態(tài)光散射粒度分析儀
攜全新復(fù)雜基質(zhì)測試方案登場：
MAPS系統(tǒng)：復(fù)雜樣品的簡單方案
PCON系統(tǒng)：樣品中不同顆粒濃度及總濃度的直觀表達
MAPS多角度聯(lián)合測試
簡單的單峰樣品測試已無法滿足日益多樣的測試需求，Litesizer DLS 700 正式推出多峰樣品的最佳測試方案：
MAPS 系統(tǒng)擁有更高的分辨率，解決復(fù)雜樣品的粒徑問題；更準(zhǔn)確的粒徑分布結(jié)果；更優(yōu)秀的分離度，粒徑比例大于1：2 即能準(zhǔn)確分辨。
不同角度分管樣品中不同大小顆粒的結(jié)果，將其連立計算，即可獲得，不同大小顆粒的準(zhǔn)確結(jié)果。
實驗分析
NIST 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)：
已知粒徑分別為150nm和300nm（粒徑大小比值為1：2），將兩者混合，混合比為3:1
用背散射角測量/MAPS 測量
使用Maps進行三角度測量
背散射角度測試顯示單峰
背散射測量只顯示一個峰值無法將其分為雙峰，MAPS 結(jié)果，準(zhǔn)確的解出了兩個峰值。
Litesizer DLS 700 測試顯示雙峰
PCON顆粒濃度測試
借助 PCON 系統(tǒng)強大的功能，現(xiàn)在您可以更了解樣品中顆粒的濃度。Litesizer 700 不單單提供樣品中顆粒的總濃度，通過 MAPS 對樣品進行解析，還可以確定不同大小顆粒各自的濃度。
結(jié)果顯示：峰大小、相應(yīng)濃度、總濃度
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