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            BeNano 180 Zeta Max納米粒度及Zeta電位分析儀

            BeNano 180 Zeta Max納米粒度及Zeta電位分析儀
            丹東百特  2025-01-10  |  閱讀:236

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            背向 +90°散射粒度

             +Zeta 電位 +0°光電模塊四合一型


            產(chǎn)品介紹

            BeNano 180 Zeta Max 納米粒度及Zeta電位儀是丹東百特儀器有限公司2024年最新推出的表征納米體系特性的頂級光學(xué)檢測系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了動態(tài)光散射DLS、電泳光散射ELS、靜態(tài)光散射SLS以及透射光檢測技術(shù),可以準(zhǔn)確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布,Zeta電位,高分子和蛋白體系的分子量、液體的折射率、以及顆粒物濃度信息等等參數(shù),可廣泛的應(yīng)用于化學(xué)、化工、生物、制藥、食品、材料等等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析質(zhì)量控制用途。


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            基本性能指標(biāo)

            粒徑檢測(動態(tài)光散射法)

            ? 粒徑范圍:0.3 nm–15 μm

            ? 最小樣品量:3 μL

            ? 檢測角度:173°+ 90°+ 12°

            ? 分析算法:Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS


            沉降法粒度測試

            ? 檢測方法:沉降法

            ? 粒徑范圍:1 μm – 50 μm

            ? 檢測角度:0°

            ? 樣品量:1 - 3 mL


            Zeta電位測試

            ? 檢測角度:12°

            ? Zeta范圍:無實(shí)際限制

            ? 電泳遷移率范圍:> ±20 μ.cm/V.s

            ? 電導(dǎo)率范圍:0 - 260 mS/cm

            ? Zeta測試粒徑范圍:2 nm –>120 μm


            分子量測試

            分子量范圍:342 Da – 2 x 107 Da 


            微流變測試

            測試能力:均方位移、復(fù)數(shù)模量、彈性模量、粘性模量、蠕變?nèi)崃?/p>


            趨勢測試

            模式:時間和溫度


            濃度檢測

            ? 檢測方法:LEDLS

            ? 測試能力:體積分?jǐn)?shù)和數(shù)量濃度


            折光率測試

            ? 檢測方法:楔形池樣品折射(無需示蹤粒子)

            ? 檢測角度:0°

            ? RI范圍:1.2-1.6

            ? 精度:優(yōu)于0.1%

            ? 最小樣品量:380 μL


            系統(tǒng)參數(shù)

            ? 溫控范圍:-15°C - 120°C

            ? 冷凝控制:干燥空氣或者氮?dú)?/p>

            ? 標(biāo)準(zhǔn)激光光源:50 mW 高性能固體激光器, 671 nm

            ? 相關(guān)器:快、中、慢多模式,最快25 ns采樣,最多4000通道,1011動態(tài)線性范圍

            ? 檢測器:APD (高性能雪崩光電二極管)+ PD + CMOS

            ? 光強(qiáng)控制:0.0001% - 100%,手動或者自動


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            檢測參數(shù)

            動態(tài)光散射

            ? 流體力學(xué)尺寸 Dh

            ? 分布系數(shù) PD.I? 擴(kuò)散系數(shù) D

            ? 顆粒間相互作用力因子kd

            ? 顆粒體系的光強(qiáng)、體積、面積和數(shù)量分布

            ? 計(jì)算分子量? 溶液粘度和折射率

            ? 流變學(xué)信息G*,G‘,G“,η*,J


            電泳光散射

            ? Zeta電位及其分布

            ? 帶電顆粒的電泳遷移率


            透射

            ? 透射濁度

            ? 顆粒物濃度

            ? 液體折射率

            ? 沉降法粒度和粒度分布測試


            趨勢測試

            ? Zeta電位和粒徑的pH滴定

            ? 粒徑和Zeta電位的溫度趨勢測試


            靜態(tài)光散射

            ? 絕對分子量Mn、Mw、Mz

            ? 分子量分布

            ? 第二維利系數(shù)A2


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            選配件


            ? 動靜態(tài)流動模式

            BeNano動靜態(tài)流動模式(Flow Mode)是將納米粒度及Zeta電位儀同一個分離前端(FFF、GPC/SEC)相連接。分離前端可以根據(jù)尺寸將樣品進(jìn)行分離,依次流出。通過檢測每個流出組分的動態(tài)光散射信號和靜態(tài)光散射號,并結(jié)合分離前端的示差折光RI或者紫外UV信號,得到高分辨率且不依賴于計(jì)算模型的粒徑分布、分子量分布信息。


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            ? BAT-1自動滴定儀

            樣品的Zeta電位和粒徑對于分散液介質(zhì)環(huán)境具有強(qiáng)烈的依賴性,尤其是環(huán)境pH,不但影響Zeta電位的大小,而且會影響顆粒體系的帶電符號。BAT-1自動滴定儀與BeNano系列連用,內(nèi)置三個高精度滴定泵和一個樣品輸送泵,具有樣品攪拌能力,可以對于樣品的粒徑和Zeta電位進(jìn)行自動化的酸堿滴定測試,具有測試效率高、精確定量、重復(fù)性好、結(jié)果不依賴于操作者等特點(diǎn)。由于盛放樣品的樣品管可拋棄,避免了交叉污染的風(fēng)險(xiǎn)。


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            ? BeScan穩(wěn)定性分析儀

            BeScan穩(wěn)定分析儀是基于多重光散射原理的樣品穩(wěn)定性分析設(shè)備,通過檢測得到樣品隨空間分布、時間、溫度的不穩(wěn)定性變化,并給出不穩(wěn)定性指數(shù)IUS,粒子遷移速度及樣品粒徑隨時間的變化曲線等信息。BeScan靈敏的光學(xué)系統(tǒng)可以給出超過肉眼200倍以上的靈敏度,能更好的洞悉樣品的微觀結(jié)構(gòu)變化,從而極大的節(jié)約檢測時間,縮短配方研制周期。BeScan與BeNano聯(lián)合使用,通過定量的IUS和Zeta電位信息研究樣品的變化及其原因。


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