丹東百特儀器有限公司
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在傳統(tǒng)的動(dòng)態(tài)光散射法粒度測(cè)試中,為了避免復(fù)散射 (Multiple scattering) 現(xiàn)象,需要盡量降低樣品的濃度,有時(shí)甚至看上去都是澄清透明的。而實(shí)際上大多數(shù)膠體產(chǎn)品原樣的濃度都在5%以上,外觀是渾濁的。對(duì)這樣的樣品,用傳統(tǒng)光子相關(guān)光譜法分析前要做高倍率的稀釋,這既不便于使用,又可能會(huì)破壞膠體的穩(wěn)定性,因此用于高濃度下的后向動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)應(yīng)運(yùn)而生。為了降低復(fù)散射光在信號(hào)光中的比重,將發(fā)射端和接收端布置于試樣的同側(cè),即測(cè)量后向散射光信號(hào),并適當(dāng)控制散射區(qū)域大小, 可以獲得即減少?gòu)?fù)散射的影響,又能測(cè)量高濃度樣品的效果。
上圖是后向散射光測(cè)量的示意圖。激光器發(fā)出的光經(jīng) 2+1 光耦合器進(jìn)入一單模光纖。激光從光纖射出被納米顆粒散射后,其散射光又被該單模光纖接收,疊加在光纖端表面并返回,經(jīng)光耦合器到達(dá)光探測(cè)器被檢測(cè)。對(duì)檢測(cè)到的信號(hào)作傅里葉變換得到動(dòng)態(tài)光散射信號(hào)的功率譜,然后對(duì)不同頻段的功率譜信號(hào)用 Stocks-Einstein 公 式處理,就可以得到納米顆粒的粒度分布。
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