中國(guó)粉體網(wǎng)訊 顆粒度和晶粒度是材料科學(xué)中兩個(gè)不同的概念，它們分別描述了不同層次的結(jié)構(gòu)特征。
顆粒度
定義：顆粒度是指粉體或分散系統(tǒng)中單個(gè)顆粒的大小。它通常用來(lái)描述粉體、沙子、土壤等非連續(xù)介質(zhì)中個(gè)體顆粒的尺寸。
測(cè)量：顆粒度可以通過(guò)篩分、激光散射、沉降分析等多種方法來(lái)測(cè)定。
應(yīng)用：顆粒度對(duì)于粉末冶金、制藥、涂料、食品加工等行業(yè)非常重要，因?yàn)轭w粒大小直接影響到產(chǎn)品的性能，比如溶解性、流動(dòng)性、反應(yīng)活性等。
晶粒度
定義：晶粒度是指多晶體材料內(nèi)部由許多小晶體（晶粒）組成的結(jié)構(gòu)中，這些晶粒的平均尺寸。
測(cè)量：晶粒度一般通過(guò)金相顯微鏡或掃描電子顯微鏡觀察，并采用標(biāo)準(zhǔn)評(píng)級(jí)圖或直接測(cè)量晶粒邊界間距的方法來(lái)確定。
影響因素：晶粒度受到材料的熱處理歷史（如退火溫度和時(shí)間）、冷卻速率等因素的影響。細(xì)小的晶�？梢蕴岣卟牧系膹�(qiáng)度和韌性，而較大的晶�？赡軐�(duì)材料的延展性和抗裂紋擴(kuò)展能力有不利影響。
應(yīng)用：晶粒度在金屬合金、陶瓷和其他多晶體材料的研究與生產(chǎn)過(guò)程中是一個(gè)關(guān)鍵參數(shù)，因?yàn)樗苯佑绊懖牧系臋C(jī)械性能、物理性質(zhì)以及最終的應(yīng)用表現(xiàn)。
以WC粉為例看二者的區(qū)別
WC粉是生產(chǎn)硬質(zhì)合金的基本組分，是應(yīng)用最廣泛的硬質(zhì)合金硬質(zhì)相，粒度分布作為粉體重要的物性特征指數(shù)，是衡量WC顆粒均勻度的重要指標(biāo)，特別是合金生產(chǎn)過(guò)程中對(duì)粒度有著嚴(yán)格的要求，粒度分布結(jié)構(gòu)直接影響到合金質(zhì)量，受到了人們的重視。
目前，國(guó)內(nèi)外常用的WC粒度檢測(cè)方法有：激光粒度儀法、X射線衍射法（XRD）、掃描電鏡法（SEM）、費(fèi)氏粒度法（Fsss）、氮吸附法（BET）等。然而上述方法中，大部分方法所測(cè)得的WC尺寸通常應(yīng)稱為“顆粒度”而非“晶粒度”。
研究人員指出，由于每個(gè)WC顆粒并非都是單晶體，因此“顆粒度”是無(wú)法表征“晶粒度”的。盡管XRD技術(shù)能獲得材料晶體結(jié)構(gòu)的宏觀信息，但不能與微觀組織結(jié)構(gòu)相對(duì)應(yīng)，也無(wú)從知道晶粒度的分布情況。因此需要一種新型技術(shù)，對(duì)WC粉的晶粒度及晶粒分布有一個(gè)更深入的了解。
近年來(lái)，隨著材料領(lǐng)域的飛速發(fā)展，對(duì)材料的各種分析技術(shù)的要求不斷提高，電子背散射衍射（EBSD）技術(shù)作為新型分析測(cè)試方法，備受研究學(xué)者們的關(guān)注。EBSD技術(shù)是利用晶體學(xué)信息的方法，在樣品表面構(gòu)建各晶粒的取向圖，空間分辨率可達(dá)數(shù)十納米，能夠自動(dòng)標(biāo)定晶界，統(tǒng)計(jì)晶粒度大小，數(shù)據(jù)客觀真實(shí)。
因此，相比于傳統(tǒng)的粒度檢測(cè)技術(shù)，EBSD技術(shù)可以通過(guò)對(duì)WC晶粒的取向檢測(cè)，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)WC粉的晶粒度及粒度分布進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，并做到檢測(cè)結(jié)果的可視化。這為今后深入研究WC粉體性能開(kāi)啟了一扇新的大門(mén)。
參考來(lái)源：賀鳴等：EBSD技術(shù)在WC粉末晶粒度測(cè)量上的應(yīng)用，株洲鉆石切削刀具股份有限公司
（中國(guó)粉體網(wǎng)編輯整理/平安）
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