中國粉體網(wǎng)訊 7月25-29日，國際黏土學(xué)會（AIPEA）第17屆黏土大會與美國黏土學(xué)會（CMS）第59屆年會聯(lián)合會議在土耳其伊斯坦布爾隆重召開。

會上，國際黏土學(xué)會主席Reiner Dohrmann教授宣布，將國際黏土學(xué)會第8屆“杰出成就獎”（AIPEA Medal）授予中國科學(xué)院廣州地球化學(xué)研究所何宏平研究員和美國印第安納大學(xué)榮譽(yù)退休教授David Bish博士。

AIPEA MEDAL

Dohrmann教授在宣讀授獎理由時指出，何宏平研究員在層狀硅酸鹽礦物的演化及礦物生長機(jī)制、黏土礦物微結(jié)構(gòu)與表征技術(shù)，以及黏土礦物資源利用等方面取得了系列創(chuàng)新成果，推動了黏土礦物學(xué)學(xué)科的發(fā)展和與其它學(xué)科的交叉融合。

何宏平研究員

所謂：“工欲善其事必先利其器”，中國科學(xué)院礦物學(xué)與成礦學(xué)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室和廣東省礦物物理與材料研究開發(fā)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室共同搭建了8大實(shí)驗(yàn)平臺，為何宏平研究團(tuán)隊(duì)斬獲大獎提供了強(qiáng)有力的科研支撐。其中，礦物學(xué)研究平臺配置了Zeta電位及粒度分析儀、激光粒度分析儀、比表面積與孔隙度分析儀、同步熱分析儀、接觸角測量儀、電化學(xué)工作站等儀器設(shè)備，可滿足礦物樣品表面性質(zhì)（表面電位、親疏水性）、粒徑（從納米到微米）、比表面積和孔結(jié)構(gòu)、熱性能、光電性能等分析測試。

成都精新激光粒度儀

實(shí)驗(yàn)室配置型號（JL-1177）

主要技術(shù)參數(shù)

（1）測量范圍為0.01~3000μm；測量精度：≤1%.

（2）內(nèi)置60W超聲波分散器；光路系統(tǒng)為倒置傅里葉光學(xué)系統(tǒng)。

（3）配備進(jìn)口半導(dǎo)體激光器，主光源波長為650nm，功率最大為30mW；輔助光源波長為405nm，功率最大為20mW。

（4）具有自動吸水、自動對中、自動測試、自動清洗、超聲波防干燒等智能功能；

（5）測量參數(shù)包括累積百分比粒徑、粒度分布表、粒度分布曲線，同時提供D₃、D₁₀、D₂₅、D₅₀、D₇₅、D₈₄、D₉₀、D₉₇、體積平均粒徑、面積平均粒徑、比表面積等數(shù)據(jù)。測試數(shù)據(jù)有自由分布、對數(shù)正態(tài)分布、R-R分布等多種分布模式。

馬爾文帕納科Zeta電位及激光粒度分析儀

實(shí)驗(yàn)室配置型號（MalvernZetasizerNanoZS90）

Zeta電位

（1）測量范圍3.8nm~100μm（直徑）；原理為電泳光散射法。

（2）精確度0.12μm·cm/V·s；靈敏度10mg/mL（BSA）。

分子量

（1）測量范圍9800Da~20MDa*；測量原理靜態(tài)光散射法，使用德拜圖。

（2）最小樣品容積為20μL，需要3~5種樣品濃度；精確度：±10%。

美國Micromeritics比表面積與孔隙度分析儀

實(shí)驗(yàn)室配置型號（ASAP2020）

技術(shù)參數(shù)

（1）比表面積測量范圍0.0005~無上限m²/g；孔徑分析范圍3.5~5000Å。

（2）最小孔體積檢測：0.0001cc/g；微孔區(qū)段分辨率：0.2Å。

（3）測試類型：比表面分析（可以得到BET比表面積）、介孔分析（可以得到BET比表面積、吸脫附等溫線、總孔體積、BJH孔徑分布）等。

寫在最后

隨著粉體深加工技術(shù)研究不斷深入，粉體表征設(shè)備的作用越來越凸顯，所謂“君子善假于物也”，科技進(jìn)步往往是相互促進(jìn)，相輔相成的。

信息來源：中科院廣州地化所、粉體網(wǎng)等

（中國粉體網(wǎng)編輯整理/昧光）

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