2012年10月17日-19日，由中國顆粒學會(CSP)、紐倫堡會展服務(上海)有限公司、上海環(huán)球展覽有限公司共同合作主辦的第十屆中國國際粉體加工/散裝輸送展覽會暨會議(IPB 2012)在上海國際展覽中心成功舉辦。IPB是中國顆粒學會唯一主辦的粉體/ 散裝行業(yè)展覽會，是引領新興的粉體行業(yè)發(fā)展的盛宴。

    IPB展示內(nèi)容含概材料改性工業(yè)的整個加工流程，關注各種行業(yè)中混合，輸送，粉碎，篩分和顆粒制備技術，不僅運用于化工、制藥、食品工業(yè)的處理，更廣泛應用于顏料染料，包裝，采石，建筑，陶瓷等領域。


美國貝克曼庫爾特有限公司現(xiàn)場展位

    此次展會，貝克曼庫爾特攜公司諸多產(chǎn)品盛裝出席，主推產(chǎn)品包括Multisizer 3庫爾特粒度分析計數(shù)儀、DelsaNano 納米粒度/Zeta電位分布分析儀、LS 13 320激光粒度分析儀等，吸引了眾多客戶駐足觀看、交流。

    DelsaNano 納米粒度/Zeta電位分布分析儀適用醫(yī)藥品,食品飲料,蛋白質(zhì),生物工程,配方 穩(wěn)定性,墨水,油墨,半導體,固液界面電位等的測試。


DelsaNano 納米粒度/Zeta電位分布分析儀

    技術特點：
    - 可選傳統(tǒng)的前散射或最先進背散設粒度測量
    - 可選檢測器前置光圈加強精度與分辨率
    - 可選對數(shù)或線性相關儀針對多種不同分散度樣品
    - 可選特強電場針對難度高樣品
    - 可選測量溫度低至5度
    - 30mW激光源為標準規(guī)格
    - 備石英,塑料一次性,毛細管和高濃度樣品池
    - 多點測量Zeta電位分布加強精度
    - 分析過程實時報讀粒度和粒度變化趨勢
    - 粒度與Zeta電位均以平均值和分布圖/列表表達
    - 全自動SOP操作模式可供連續(xù)測量多個SOP
    - Zeta電位測量同時測量液體導電率
    - 提供專業(yè)分散劑輔助納米分散

    貝克曼庫爾特公司對顆粒特性的研究始于上世紀的四十年代，一直專注于顆粒分析的研究開發(fā)與應用。其顆粒特性分析儀器已經(jīng)成為當今全球最具競爭力和獨當一面的表征顆粒特性的產(chǎn)品！無論是對粒度的分析，還是顆粒的計數(shù)；無論是在微米-亞微米范圍的測量，還是在納米尺度內(nèi)的測量；既擁有應用庫爾特原理的產(chǎn)品，同時也擁有應用激光衍射散射原理以及動態(tài)光散射原理的產(chǎn)品，使貝克曼庫爾特公司成為粒度分析同業(yè)的翹楚！

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