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本系統(tǒng)除了可以測(cè)試材料的鐵電、壓電、熱釋電性能外，還可以用于測(cè)試材料在寬溫度范圍內(nèi)的電卡性能。

電卡測(cè)試性能參數(shù)：
溫度范圍: -50℃到200℃
溫度靈敏度: 20mK
熱流時(shí)間范圍: 1s-1000s
樣品形狀: 圓形
電壓: 可達(dá)10kV
P-E回線測(cè)試: 虛擬接地測(cè)試
波形：用戶自定、脈沖、三角波、正弦波、任意波形、預(yù)定義波形




測(cè)試功能：
大信號(hào)電極化和位移（單一極化和雙化）
小信號(hào)電容、損耗、壓電系數(shù)與單一和雙極直流偏壓
電性能和機(jī)電性能隨溫度的變化研究
熱釋電測(cè)試
漏電流測(cè)試
疲勞測(cè)試
用戶定義激勵(lì)波形

軟件：
Windows 7操作系統(tǒng)
通過(guò)GPIB或以太網(wǎng)的遠(yuǎn)程接入和腳本控制
通過(guò)ODBC接口的數(shù)據(jù)庫(kù)連接
測(cè)試數(shù)據(jù)通過(guò)ASCII形式輸出
測(cè)試數(shù)據(jù)交換通過(guò)aixPlorer軟件或Resonance Analyzer。