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1、臺式設(shè)計，可快速測試樣品。
2、可以對不導電樣品進行無噴涂觀察。
3、像使用數(shù)碼相機一樣，操作簡單。
4、 性能介于高級光學顯微鏡與傳統(tǒng)掃描電鏡之間。
產(chǎn)品介紹
掃描電子顯微鏡是介于透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進行微觀成像。
掃描電子顯微鏡的優(yōu)點是，有較高的放大倍數(shù)，20-20萬倍之間連續(xù)可調(diào)；有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結(jié)構(gòu)；試樣制備簡單。
目前的掃描電鏡都配有X射線能譜儀裝置，這樣可以同時進行顯微組織形貌的觀察和微區(qū)成分分析，因此它是當今十分有用的科學研究儀器。
掃描電子顯微鏡已成為表征物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)不可或缺的儀器。
在掃描電鏡中，電子束與試樣的物質(zhì)發(fā)生相互作用，可產(chǎn)生二次電子、特征X射線、背散射電子等多種的信號，這些得到的都是接近樣品表面的信息。
在掃描電鏡上配置透射附件，應(yīng)用透射模式（ STEM ）可得到物質(zhì)的內(nèi)部結(jié)構(gòu)信息，使其既有掃描電鏡的功能，又具備透射電鏡的功能。
技術(shù)參數(shù)：
| 分辨率（Resolution） | 5nm (30kV, SE Image) |
| 10nm (30kV, BSE Image) | |
| 放大倍率（Magnification） | 30x~150,000x |
| 加速電壓（Accelerating Voltage） | 1kVto30kV(1kV/5kV/10 kV /15kV/20kV/30 kV-6step) |
| 圖像檢測 | 二次電子圖像-(SEI)-SecondaryElectronImage |
| （Signal Detection） | 背散射電子圖像 |
| 燈絲類型（Filament type） | 預對中鎢燈絲 |
| 偏壓系統(tǒng)（Bias voltage system） | 自動偏壓方式（Automatic mode） |
| 電子槍校正（Electron gun alignment） | 手動方式（Manual mode） |
| 聚光鏡（Focus Lens） | 2段式磁線圈透鏡 |
| 物鏡（Objective Lens） | 1段式磁線圈透鏡 |
| 探測器類型(Detectortype) | SE Detector/ BSE Detector |
| 載物臺系統(tǒng)( Stage System) | 自動或者手動（Auto or Manual） |
| 載物臺移動（Stage Traverse） | 5軸操控或自動操控5 axis System，AUTO |
| 圖像掃描（Image Scanning system） | 快速掃描(FastScan):320x240(Scantime:0.1sec.) |
| 低速掃描(SlowScan):640x480(Scantime:3sec.) | |
| 自動功能（Automatic Function） | 自動啟動(Auto start)，自動聚焦(Auto focus)，自動亮度對比度調(diào)節(jié)(Auto Brightness/Contrast) |
暫無數(shù)據(jù)！
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