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我公司設(shè)計(jì)了世界上**臺(tái)便攜式光學(xué)三維形貌儀,10秒鐘即可精確測(cè)量材料表面的三維輪廓,粗糙度Ra/Rq/Rz,孔隙率,有效接觸面積,并同時(shí)原位記錄材料表面的視覺圖像。我公司有兩款便攜式三維形貌儀(TRACEiT®-MICRO和TRACEiT-MIDI®),其快速,便捷,準(zhǔn)確的測(cè)量方法幾乎可以在任何地點(diǎn)進(jìn)行測(cè)量,廣泛應(yīng)用于產(chǎn)品的質(zhì)量檢驗(yàn)和研發(fā)中。
應(yīng)用領(lǐng)域
♦ 對(duì)文物清洗效果進(jìn)行無損檢測(cè)、評(píng)估
♦ 修復(fù)、加固效果評(píng)估
♦ 古代紙張、絲織品分析鑒定
♦ 用于考古現(xiàn)場(chǎng)記錄
♦ 汽車、航空、船舶工程(皮革、紡織品、涂裝、塑膠)
TRACEiT®-MICRO便攜式光學(xué)三維形貌儀包含一個(gè)手持式光學(xué)測(cè)量頭和專用便攜式電腦,在5mm × 5mm范圍內(nèi)對(duì)x及y方向各進(jìn)行高達(dá)1500次的測(cè)量,從而得出平均數(shù)值及標(biāo)準(zhǔn)偏差。 同時(shí),設(shè)備的專用軟件還可進(jìn)一步評(píng)估特定范圍內(nèi)材料表面的性能。該儀器擁有封閉式設(shè)計(jì),因此其測(cè)量結(jié)果重復(fù)性和再現(xiàn)性高。
設(shè)備優(yōu)點(diǎn)
★ 精度高
★ 快速測(cè)量
★ 便攜式設(shè)計(jì)
★ 多參數(shù)數(shù)據(jù)分析
★ 重復(fù)性、再現(xiàn)性高
★ **技術(shù)可同時(shí)測(cè)量三維形貌和視覺效果
技術(shù)參數(shù)
精確度 | 1.5µ m |
測(cè)量面積 | 5 mm × 5 mm |
測(cè)量時(shí)間 | 10秒 |
Z軸測(cè)量高度 | 800µ m |
基本介紹
TRACEiT-MIDI®便攜式光學(xué)三維形貌儀包含一個(gè)手持式光學(xué)測(cè)量頭,專用便攜式數(shù)據(jù)采集系統(tǒng),ipod操作控制系統(tǒng)。**測(cè)量范圍可達(dá)標(biāo)準(zhǔn)A4紙,精確度可達(dá)100um。 同時(shí),專用軟件還可用來進(jìn)一步評(píng)估特定區(qū)域內(nèi)材料表面的性能。
設(shè)備優(yōu)點(diǎn)
¤ 便攜式設(shè)計(jì)
¤ **技術(shù)可同時(shí)測(cè)量三維形貌和視覺效果
¤ 同時(shí)3D建模
¤ 便捷使用
¤ 精度高
¤ 重復(fù)性、再現(xiàn)性高
¤ 快速測(cè)量
¤ 多參數(shù)數(shù)據(jù)分析:粗糙度,高度,深度等
技術(shù)指標(biāo)
精確度 | 100µ m |
測(cè)量面積 | 300mm× 200 mm |
測(cè)量時(shí)間 | 10秒 |
Z軸測(cè)量高度 | 800 mm |
備選設(shè)備
COPRA® 掃描計(jì)算系統(tǒng)
該系統(tǒng)可以用來計(jì)算材料的
☆ 表面結(jié)構(gòu)
☆ 涂層
☆ 印壓
☆ 磨耗及磨損
☆ 顆粒度及孔隙度
該掃描計(jì)算系統(tǒng)特別設(shè)計(jì)用來整理及評(píng)估磨損結(jié)果,亦可用于評(píng)估其他各種表面的特性。計(jì)算參數(shù)包括:
♦ 顆粒度分布(數(shù)量、面積、大小及百分比)
♦ 平均值(包含標(biāo)準(zhǔn)偏差)
♦ 孔隙度分布
♦ 灰階表面形貌影像的高度分析
♦ 方位長度剖面
♦ 磨耗及磨損分析
暫無數(shù)據(jù)!