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C11200/鎖模激光器系統(tǒng)
產(chǎn)品目錄:
產(chǎn)品圖像 | 產(chǎn)品型號 | 產(chǎn)品名稱 | 系統(tǒng)名稱 | 掃描重復率 | 時間分辨率(擬合分析) |
C11200/鎖模激光器系統(tǒng) | 皮秒熒光壽命測量系統(tǒng) | 鎖模鈦藍寶石激光系統(tǒng) | **值 20 MHz | 5 ps |
C11200/氮激光器系統(tǒng) | 皮秒熒光壽命測量系統(tǒng) | 氮激光器泵浦型染料激光器系統(tǒng) | **10 Hz | 100 ps |
C11200/PLP系統(tǒng) | 皮秒熒光壽命測量系統(tǒng) | PLP系統(tǒng) | **20MHz | 10 ps |
C11200/鎖模激光器系統(tǒng):
濱松皮秒熒光壽命測量系統(tǒng)是為滿足研究這類材料的研究者們的需求而開發(fā)的。具有皮秒時間響應的光學瞬態(tài)記錄儀“條紋眼(streak scope)”的應用,使得超快時間分辨型分光光度法成為現(xiàn)實。
條紋相機技術的應用使探測靈敏度達到光子計數(shù)水平。對于同步波長和時間測量,可將光譜儀添加到系統(tǒng)中。波長和時間設置等測量參數(shù)可以由電腦控制以簡化實驗室操作。
詳細參數(shù)
系統(tǒng)名稱 | 鎖模鈦藍寶石激光系統(tǒng) |
波長范圍 | 200--850 nm,400 nm--900 nm |
探測器類型 | Czerny-Turner型 (帶像差矯正環(huán)形鏡) f=338 mm F3.9 |
光柵 | 同時可安裝兩個光柵 (40 gr/mm 到 1200 gr/mm可選) |
測量波長范圍 | 280 nm (采用40 gr/mm) 到 10 nm (采用1200 gr/mm) |
波長分辨率 | 5.4 nm (采用40 gr/mm) 到 0.18 nm (采用1200 gr/mm) |
時間軸 | 1 ns 到 10 ms |
掃描重復率 | **值 20 MHz |
時間分辨率(擬合分析) | 5 ps |
特性
5 ps時間分辨率
該系統(tǒng)采用條紋相機能實現(xiàn)15 ps的時間分辨率。通過去卷積處理,能獲得5 ps的時間分辨率。
同步多波長測量
由于熒光壽命在多波長無掃描的條件下測量,時間分辨型光譜可以在很短的時間內(nèi)采集。
二維光子計數(shù)
光子計數(shù)和條紋相機技術的結合實現(xiàn)了超高靈敏度和同步多波長測量。因為多波長的熒光現(xiàn)象可以 被同步測量,即使極低熒光也能被有效地探測和測量,這是以前的方法不能提供的特性。
優(yōu)于100,000:1的寬動態(tài)范圍
優(yōu)于100,000:1的動態(tài)范圍測量極低熒光。這能實現(xiàn)多組分熒光壽命的高精度分析。
更短積分時間和更好信噪比測量熒光壽命
條紋掃描頻率可以達到20 MHz。通過高速重復掃描的積分,高信噪比測量可以快速完成。
涵蓋從皮秒到微秒的熒光現(xiàn)象
由于掃描時間從1 ns到10 ms可調(diào),從皮秒到微秒的寬范圍熒光壽命測量成為可能。
涵蓋從UV到NIR的寬波長范圍
兩種條紋相機可選,分別具有200-850 nm和300-900 nm的感光范圍
標準光學系統(tǒng)實現(xiàn)簡單光學對準
應用
光物理和光化學的初始研究
表面和界面的微觀環(huán)境和動態(tài)結構研究
二維分子集合體,例如分子薄膜、LB膜、液晶和沉積膜等動態(tài)結構的研究
激子動力學和量子尺寸效應的研究(例如半導體摻雜玻璃和量子線)
有機LED材料的時間分辨型熒光和磷光光譜評價
光子晶體研究
其他領域和熒光壽命相關的研究、評估和檢測
結構圖軟件
●測量界面
電腦控制條紋相機、光譜儀和延遲發(fā)生器
條紋先機、光譜儀和延遲發(fā)生器的控制窗口顯示在電腦顯示屏上,易于修改時間標度等測量參數(shù)和監(jiān)控波長選擇。“自動延遲(Auto delay)”功能節(jié)省了每次時間標度改變時所需的計時。
實時顯示
時間曲線或頻譜可以在顯示屏上實時顯示。這個功能可以用于測量期間選擇時間標度或選定分析數(shù)據(jù)區(qū)域。●熒光壽命分析
多組分分析
同一屏幕的多個數(shù)據(jù)分析
計算后的熒光壽命數(shù)值被顯示在同一屏幕上易于對比分析。
去卷積實現(xiàn)高精度分析
去卷積處理使得熒光壽命分析具有高精度。當分析壽命更長的組分比如磷光時,“Tail Fit”功能可以替代去卷積過程。 ●曲線分析
時間分辨型光譜顯示
實現(xiàn)時間分辨型光譜顯示是條紋相機提供的**特點
光譜和熒光衰減曲線的顯示
顯示每條曲線的半峰寬(FWHW)、峰位置和峰強度。
同一屏幕的多個數(shù)據(jù)加載和對比
歸一化處理使得多個數(shù)據(jù)分析變得簡單
暫無數(shù)據(jù)!