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用途：該試驗箱適用于電子連接器、半導體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產(chǎn)業(yè)電子零組件金屬接腳沾錫性試驗前的老化加速壽命時間試驗;半導體、被動組件、零件接腳氧化試驗。

型號：HZQ-3（4）

特點：

1.微電腦溫度控制器P.I.D. + P.W.M. + S.S.R. 控制LED數(shù)字顯示.

2.白金溫度感知器（PT-100）與精確的溫度可控制解析能力0.1C.

3.蒸汽試驗目標溫度設定控制/蒸汽試驗運轉(zhuǎn)計時時間設定控制.

4.全自動安全保護裝置、雙重高溫保護/蒸汽用水斷水空焚保護裝置..

主要技術(shù)參數(shù)：

測試槽尺寸：92*285*40（W*D*H）mm 3/4SET

加熱時間：RT～98℃About50min

溫度穩(wěn)定度：±0.3℃

內(nèi)箱材質(zhì)：304﹟不銹鋼

外箱材質(zhì)：烤漆涂裝

符合標準：GB、ISO、ASTM、UL、CEN…

可按照公司提供的要求定做.