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SOC710 SWIR短波紅外高光譜成像儀是原型號(hào)SOC720的升級(jí)版,更輕便、快捷、精確;是一款高質(zhì)量、高性能的科研級(jí)高光譜成像儀,光譜范圍900~1700nm。具有**的高光譜分辨率 (2.75nm), 成像分光計(jì)和高靈敏度的制冷型InGaAs陣列檢測(cè)器,使得SOC710 SWIR能夠以16bit的數(shù)字分辨率同時(shí)收集640*568像素、288個(gè)波段的高光譜信息。其**的性能及成像質(zhì)量,在同類產(chǎn)品中無(wú)出其右。
SOC公司具有40余年高光譜成像研發(fā)經(jīng)驗(yàn),具有多項(xiàng)高光譜成像領(lǐng)域**。SOC還與美國(guó)NASA及國(guó)防部長(zhǎng)期合作,并參與了多款太空望遠(yuǎn)鏡的光學(xué)模塊研發(fā)工作。
SOC710 SWIR為一體式設(shè)計(jì),集成度高,開(kāi)箱之后即可使用;具備內(nèi)置平移推掃裝置,不需另配掃描臺(tái),即可任意方向或直接垂直向下掃描;掃描速度與積分時(shí)間自動(dòng)匹配。獨(dú)特的內(nèi)置掃描和雙CCD設(shè)計(jì),可以直接預(yù)覽待測(cè)區(qū)域圖像,內(nèi)置平移式平移推掃設(shè)計(jì)成功地解決了外置掃描方式無(wú)法避免的圖像畸變問(wèn)題。真正的所見(jiàn)即所得!自動(dòng)暗電流,自動(dòng)匹配積分時(shí)間,預(yù)覽圖像自動(dòng)提示曝光飽和,自動(dòng)存儲(chǔ);可按預(yù)設(shè)的測(cè)量間隔長(zhǎng)期無(wú)人值守全自動(dòng)監(jiān)測(cè)。系統(tǒng)采用SOC的HyperScanner操作軟件和SRAnal710™校準(zhǔn)和分析工具進(jìn)行標(biāo)定和數(shù)據(jù)處理。SOC處理器以**的測(cè)量速度快速獲取光譜數(shù)據(jù),數(shù)據(jù)以開(kāi)放的BIL二進(jìn)制格式保存,可以兼容ENVI等第三方數(shù)據(jù)分析軟件,適應(yīng)多種研究應(yīng)用。嚴(yán)格NIST可溯源校準(zhǔn),數(shù)據(jù)準(zhǔn)確可靠。
農(nóng)業(yè)領(lǐng)域
-精準(zhǔn)農(nóng)業(yè)
-土地分類
-水分脅迫
-作物健康
-種子品質(zhì)
遙感科學(xué)
-環(huán)境遙感
-資源勘察
醫(yī)學(xué)領(lǐng)域
-病變組織分析
- 血糖分析
- X線斷層攝影術(shù)
溫度測(cè)量
-火點(diǎn)監(jiān)測(cè)
-玻璃檢測(cè)
-燃燒分析
--溫度分布
國(guó)防安全
-偽裝識(shí)別
-邊境安全
機(jī)械視覺(jué)
-電子學(xué)和塑膠
-晶片檢查
-食品藥品
-化學(xué)過(guò)程控制
技術(shù)參數(shù):
SOC710 SWIR短波紅外高光譜成像儀 | |
光譜范圍 | 900~1700 nm |
光譜分辨率 | 2.75 nm |
光譜波段數(shù) | 288 |
數(shù)字光圈 | F/2.0 |
鏡頭焦距 | 8mm、12.5mm、16mm、25mm、35mm和50mm可選 |
掃描速度 | 60~120行/秒 |
測(cè)量速度 | ~10秒/Cube |
數(shù)字分辨率 | 14 bit |
像素 | 640x568 |
掃描方式 | 內(nèi)置平移推掃 |
數(shù)據(jù)接口 | USB |
供電 | DC12V / AC220V |
產(chǎn)地:美國(guó)
暫無(wú)數(shù)據(jù)!