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測(cè)試內(nèi)容：

• 硅電池的**光譜響應(yīng)，外量子效率，光譜透過(guò)率，短路電流密度，光譜反射率，內(nèi)量子效率

• 薄膜電池的**光譜響應(yīng)，量子效率，光譜透過(guò)率，短路電流密度

• 燃料敏化電池的**光譜響應(yīng)，量子效率，短路電流密度

• 光譜范圍：200-2600nm（可選）
• 掃描間隔：≥ 1nm整數(shù)（可調(diào)）
• 掃描方式：全自動(dòng)
• 可配置多段偏置光源，方便對(duì)雙結(jié)以上復(fù)雜薄膜電池的測(cè)試
• 可配置不同偏置電源
• 短路電流密度重復(fù)性：＜1%
• 獨(dú)特的噪聲處理裝置和標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)量方法，真正實(shí)現(xiàn)精確測(cè)量。
• 可選溫控臺(tái)：溫控范圍 5-40°C（±0.5°C）
• 測(cè)試方式：交流測(cè)試+直流測(cè)試（可預(yù)測(cè)響應(yīng)時(shí)間）
• 自動(dòng)快門(mén)控制偏光開(kāi)關(guān)
• 可選雙光路監(jiān)視
• 可選光強(qiáng)檢測(cè)器
• 可測(cè)透過(guò)率、反射率、吸收率
• 可選級(jí)聯(lián)雙單色儀