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            EM12精致型多入射角激光橢偏儀
            EM12精致型多入射角激光橢偏儀

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            北京

            樣本

            暫無
            北京賽凡光電儀器有限公司

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            第2年

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            EM12是采用先進(jìn)的測量技術(shù),針對中端精度需求的研發(fā)和質(zhì)量控制領(lǐng)域推出的精致型多入射角激光橢偏儀。EM12可在單入射角度或多入射角度下對樣品進(jìn)行準(zhǔn)確測量??捎糜跍y量單層或多層納米薄膜樣品的膜層厚度、折射率n和消光系數(shù)k;也可用于同時測量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k;亦可用于實時測量納米薄膜動態(tài)生長中膜層的厚度、折射率n和消光系數(shù)k。多入射角度設(shè)計實現(xiàn)了納米薄膜的**厚度測量。
            EM12采用了量拓科技多項**技術(shù)。

            特點:

            • 次納米量級的高靈敏度

              國際先進(jìn)的采樣方法、高穩(wěn)定的核心器件、高質(zhì)量的制造工藝實現(xiàn)并保證了能夠測量極薄納米薄膜,膜厚精度可達(dá)到0.2nm。
            • 1.6秒的快速測量

              國際水準(zhǔn)的儀器設(shè)計,在保證精度和準(zhǔn)確度的同時,可在1.6秒內(nèi)快速完成一次測量,可對納米膜層生長過程進(jìn)行測量。
            • 簡單方便的儀器操作

              用戶只需一個按鈕即可完成復(fù)雜的材料測量和分析過程,數(shù)據(jù)一鍵導(dǎo)出。豐富的模型庫、材料庫方便用戶進(jìn)行高級測量設(shè)置。

            應(yīng)用:

            • EM12適合于中端精度要求的科研和工業(yè)環(huán)境中的新品研發(fā)或質(zhì)量控制。
            • EM12可用于測量單層或多層納米薄膜層構(gòu)樣品的薄膜厚度、折射率n及消光系數(shù)k;可用于同時測量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k;可用于實時測量快速變化的納米薄膜的厚度、折射率n和消光系數(shù)k。
            • EM12可應(yīng)用的納米薄膜領(lǐng)域包括:微電子、半導(dǎo)體、集成電路、顯示技術(shù)、太陽電池、光學(xué)薄膜、生命科學(xué)、化學(xué)、電化學(xué)、磁質(zhì)存儲、平板顯示、聚合物及金屬表面處理等??蓱?yīng)用的塊狀材料領(lǐng)域包括:固體(金屬、半導(dǎo)體、介質(zhì)等),或液體(純凈物或混合物)。

            技術(shù)指標(biāo):

            項目技術(shù)指標(biāo)
            儀器型號 EM12
            激光波長 632.8nm (He-Ne Laser)
            膜厚測量重復(fù)性(1) 0.2nm (對于平面Si基底上100nm的SiO2膜層)
            折射率測量重復(fù)性(1) 2x10-3 (對于平面Si基底上100nm的SiO2膜層)
            單次測量時間 與測量設(shè)置相關(guān),典型1.6s
            **的膜層范圍 透明薄膜可達(dá)4000nm

            吸收薄膜則與材料性質(zhì)相關(guān)

            光學(xué)結(jié)構(gòu) PSCA(Δ在0°或180°附近時也具有極高的準(zhǔn)確度)
            激光光束直徑 1-2mm
            入射角度 40°-90°可手動調(diào)節(jié),步進(jìn)5°
            樣品方位調(diào)整 Z軸高度調(diào)節(jié):±6.5mm

            二維俯仰調(diào)節(jié):±4°

            樣品對準(zhǔn):光學(xué)自準(zhǔn)直和顯微對準(zhǔn)系統(tǒng)

            樣品臺尺寸 平面樣品直徑可達(dá)Φ170mm
            **外形尺寸 887 x 332 x 552mm (入射角為90º時)
            儀器重量(凈重) 25Kg
            選配件 水平XY軸調(diào)節(jié)平移臺

            真空吸附泵

            軟件 ETEM軟件:

            • 中英文界面可選;
            • 多個預(yù)設(shè)項目供快捷操作使用;
            • 單角度測量/多角度測量操作和數(shù)據(jù)擬合;
            • 方便的數(shù)據(jù)顯示、編輯和輸出
            • 豐富的模型和材料數(shù)據(jù)庫支持
            注:(1)測量重復(fù)性:是指對標(biāo)準(zhǔn)樣品上同一點、同一條件下連續(xù)測量25次所計算的標(biāo)準(zhǔn)差。

            性能保證:

            • 穩(wěn)定性的He-Ne激光光源、先進(jìn)的采樣方法,保證了高穩(wěn)定性和高準(zhǔn)確度
            • 高精度的光學(xué)自準(zhǔn)直系統(tǒng),保證了快速、高精度的樣品方位對準(zhǔn)
            • 穩(wěn)定的結(jié)構(gòu)設(shè)計、可靠的樣品方位對準(zhǔn),結(jié)合先進(jìn)的采樣技術(shù),保證了快速、穩(wěn)定測量
            • 分立式的多入射角選擇,可應(yīng)用于復(fù)雜樣品的折射率和**厚度的測量
            • 一體化集成式的儀器結(jié)構(gòu)設(shè)計,使得系統(tǒng)操作簡單、整體穩(wěn)定性提高,并節(jié)省空間
            • 一鍵式軟件設(shè)計以及豐富的物理模型庫和材料數(shù)據(jù)庫,方便用戶使用

            可選配件:

            • NFS-SiO2/Si二氧化硅納米薄膜標(biāo)片
            • NFS-Si3N4/Si氮化硅納米薄膜標(biāo)片
            • VP01真空吸附泵
            • VP02真空吸附泵
            • 樣品池
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            10分

            易用性

            10分

            性價比

            10分
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            EM12精致型多入射角激光橢偏儀信息由北京賽凡光電儀器有限公司為您提供,如您想了解更多關(guān)于EM12精致型多入射角激光橢偏儀報價、型號、參數(shù)等信息,歡迎來電或留言咨詢。
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