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·在自然狀態(tài)下對材料進(jìn)行原位研究：具有環(huán)境真空模式（ESEM）的獨特高分辨率場發(fā)射掃描電鏡

·較大程度縮短樣品制備時間：低真空和環(huán)境真空技術(shù)可針對不導(dǎo)電和/或含水樣品直接成像和分析，樣品表面無荷電累積

·在各種操作模式下分析導(dǎo)電和不導(dǎo)電樣品， 同步獲取二次電子像和背散射電子像

·安裝原位冷臺、珀爾帖冷臺和熱臺，可在-165°C 到1400°C 溫度范圍內(nèi)進(jìn)行原位分析

·**的分析性能，樣品倉可同時安裝三個EDS 探測器，其中兩個EDS端口分開180°、 WDS 和共面 EDS/EBSD

·針對不導(dǎo)電樣品的**分析性能：憑借“壓差真空系統(tǒng)”實現(xiàn)低真空模式下的精確EDS 和EBSD 分析

·靈活、精確的優(yōu)中心樣品臺，105°傾斜角度范圍，可全方位觀察樣品

·軟件直觀、簡便易用，并配置用戶向?qū)Ъ癠ndo（撤銷）功能，操作步驟更少，分析更快速

·全新創(chuàng)新選項，包括可伸縮RGB 陰極熒光（CL）探測器、1100°C 高真空熱臺和AutoScript（基于Python 的腳本工具API）