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            XOS多毛細管X光透鏡
            XOS多毛細管X光透鏡

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            北京眾星聯(lián)恒科技有限公司

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            第2年

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            • 根據(jù)客戶需求提供定制多毛細管x射線光學解決方案。

            • 多毛細管準直透鏡器件 將高度發(fā)散的 X 光束轉(zhuǎn)換成低發(fā)散的準平行光束。這些透鏡器件主要應用于 X 射線衍射 (XRD) 和波長色散譜 (WDS)。

            • 多毛細管聚焦透鏡器件 從 X 射線源收集 X 射線的大立體角,并將射線聚焦為小至 10 μm 的光斑。獲得的 X 射線通量密度比用常規(guī)針孔準直器獲得的高幾個數(shù)量級。這些透鏡器件的主要應用是微量 X 射線熒光 (XRF) 分析,廣泛用于薄膜和電鍍分析、貴金屬評估、合金測量和電路板涂層監(jiān)測。該透鏡器件還可用于在諸如共焦 XRF 分析和超導能量色散 X 射線光譜儀等應用中進行檢測。使用多毛細管聚焦透鏡器件將顯著提高檢測靈敏度,并允許使用低功率 X 射線管實現(xiàn)高性能。微米級空間分辨率使之可應用于電子和貴金屬小特性評估。多毛細管透鏡器件提供 100x-10,000x 的增益,輸出焦點可小至 10 μm。

            特性

            來自微米級光斑的量級通量增益

            • 與緊湊型低功率電源集成,可提供相當于旋轉(zhuǎn)陽極源的通量

            • 光譜帶寬較寬:50 eV - 50 KeV

            • 點對點會聚光束

            • 點對平行光束

            • 可定制設計機殼

            優(yōu)勢

            極高的通量密度

            • 提高了空間分辨率

            • 非常適合分析形狀不規(guī)則、未經(jīng)制備或低阻抗的樣品

            優(yōu)于電子探針 X 射線分析:

            • 增強檢測靈敏度

            • 無需特殊樣品制備

            • 在空氣中操作

            技術參數(shù):

            Focusing Optics

            Applications include micro-XRF forelemental

            mapping, plating thickness and

            fine feature analysis.

            Working distance (mm)

            2

            4

            9

            20

            50

            100

            200

            Focal spot size* (μm, FWHM,17.4keV)

            7

            15

            25

            45

            100

            180

            300

            Intensity gain*

            (vs а plnhole collimator of same size, 100mm fгom the source)

            6000

            4500

            3500

            2000

            800

            300

            120

            Note: *With а 100μm X-ray source.

            Half-focusing Optics (XRF/XAS)

            Applications include micro XRF, micro XAS,

            and confocal XRF.

            Working distance (mm)

            2

            4

            9

            20

            50

            Focal spot size* (μm, FWHM,17.4keV)

            7

            15

            25

            45

            100

            Intensity gain*

            (vs a pinhole collimatorof same size)

            850

            550

            400

            200

            80

            Note: *With an incident beam of 2mm in diameter and a divergent angle of <0.5mrad

            Collimating/Parallel Beam Optics (XRD/WDS/XRF)

            Applications include powder XRD,

            texture and stress analysis, WDS and

            confocal XRF.

            Output beam diameter(mm)

            0.5

            1

            2

            3

            4

            6

            10

            15

            Intensity gain*

            12

            45

            130

            250

            370

            470

            680

            850

            Note: *With а 50μm X-ray source at 8keV, The lFD of the optics is 18mm and the output divergent angle is 0.2 degree.

            Figure 1: 有機玻璃散射X射線光譜

            Comparison of MXRF spectra generated using a focusing polycapillary optic and a pinhole aperture. The spectra was collected by scattering a Mo beam off Plexiglas.

            Figure 2: 采用光暈抑制型毛細管實現(xiàn)高分辨率 XRF Mapping

            Comparison of MXRF spectra generated using a focusing polycapillary optic and a pinhole aperture. The spectra was collected by scattering a Mo beam off Plexiglas.

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            性價比

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