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            薄膜無損檢測熱膨脹系數分析儀(TEA)
            薄膜無損檢測熱膨脹系數分析儀(TEA)

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            湖北

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            暫無
            上海昊擴科學器材有限公司

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            熱膨脹系數分析儀(TEA )

            獨特優(yōu)勢

            可廣泛應用于輔助各種功能薄膜材料的研究與開發(fā)及質量檢驗

            ?

            自主知識產權產品,擁有多項技術**

            ?

            基于光干涉原理的創(chuàng)新技術

            ?

            采用 PID 調節(jié)與模糊控制相結合形式控制的紅外加熱方式,大溫區(qū)連續(xù)、高速溫度跟隨、既定

            程序升溫及保持控制

            ?

            非接觸式無損檢測,測試精度高

            ?

            具備外接抽真空設備、循環(huán)水冷設備及載氣或制冷能力

            測試原理

            基于光干涉原理,測量透明材料及非透明材料的熱膨脹系數。

            激光器射出的光線經分光鏡照射到樣品上表面,產生反射光,同時投射光照射到下表面也產生

            一束反射光,兩束反射光在光電探測器處發(fā)生干涉,反射光功率發(fā)生周期性變化,得到光功率隨材料溫度的變化曲線,通過計算得到熱膨脹系數。

            技術參數

            型號 TEA-300 TEA-1200 TEA-1800

            溫度范圍 RT~300 ℃ RT~1200 ℃ RT~1800 ℃

            程序升溫重復性偏差 <1.0%

            程序升溫速率偏差 <10.0%

            熱膨脹系數測量精密度偏差 <4.5%

            熱膨脹系數測量正確度偏差 <±15%

            **工作功率 4.0KW

            **升溫速度 3000 ℃/min (50℃~1800℃,真空氛圍)

            2700 ℃/min (50℃~1800℃,N 2 氛圍)

            溫場一致性 ± 2.0 ℃(1800℃,真空)

            ± 4.5 ℃(1800℃,N 2 )

            制冷要求 水冷

            極限真空 50Pa 10Pa 1Pa

            熱膨脹薄膜材料檢測厚度下限 266nm

            熱膨脹分析**量值 5.0×10 -10 m

            創(chuàng)新點

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            薄膜無損檢測熱膨脹系數分析儀(TEA)信息由上海昊擴科學器材有限公司為您提供,如您想了解更多關于薄膜無損檢測熱膨脹系數分析儀(TEA)報價、型號、參數等信息,歡迎來電或留言咨詢。
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