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metrolux夏克-哈德曼波前分析儀WFS

Metrolux夏克-哈德曼波前分析儀WFS3743-40-200可在線分析激光及其他光源的波前相位分布，也可高精度的測(cè)量光學(xué)器件的像差。可以用于手機(jī)和相機(jī)的鏡頭等光學(xué)透鏡質(zhì)量控制。夏克-哈特曼式傳感器的波前監(jiān)控器配合外部軟件可用于波前數(shù)據(jù)分析。

產(chǎn)品應(yīng)用：

用于測(cè)量激光的波前；

測(cè)量光學(xué)器件的像差；

擴(kuò)展的Raylux軟件用于數(shù)據(jù)分析；

用于透鏡的質(zhì)量控制

產(chǎn)品參數(shù)：

測(cè)量精度: λ / 1000；

曝光時(shí)間: 10μs - 120 s ；

數(shù)據(jù)解析度: 12 Bit；

幀率： 15fps ；

微透鏡個(gè)數(shù)：45×35；

探測(cè)器類型： 2/3CCD”；

有效區(qū)域：8.97×6.71mm；

微透鏡大?。?/span>200μm；

焦距: 40 mm；

動(dòng)態(tài)范圍：90 λ；

透鏡焦距: 7 mm；

曲率半徑: 14 mm ；

像素尺寸: 6.45μm；

像素: 1380 x 1040；

軟件界面